Вышедшие номера
Оптимизация толщины слоя In0.3Ga0.7As в трехкаскадном In0.3Ga0.7As/GaAs/In0.5Ga0.5P солнечном элементе
Переводная версия: 10.1134/S1063782620010133
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 16-29-03292
Леган Д.М.1, Пчеляков О.П.1, Преображенский В.В.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Email: dmlegan@isp.nsc.ru, pch@isp.nsc.ru
Поступила в редакцию: 9 августа 2019 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2019 г.

С помощью программного пакета для приборно-технологического моделирования "Sentaurus TCAD" производился поиск оптимальной толщины поглощающего слоя нижнего каскада In0.3Ga0.7As трехкаскадного In0.3Ga0.7As/GaAs/In0.5Ga0.5P солнечного элемента в зависимости от времени жизни неосновных носителей заряда в этом слое. Величина времени жизни задавалась в диапазоне от 17 пс до 53 нс. Результаты расчета показали, что в зависимости от величины времени жизни оптимальная толщина принимает различные значения в диапазоне от 0.9 до 7.5 мкм. Также была проведена оценка вклада в кпд данного трехкаскадного солнечного элемента от нижнего In0.3Ga0.7As каскада. При различных значениях времен жизни, его величина составила от 1 до 7%. Ключевые слова: численное моделирование, оптимальная толщина, солнечный элемент, In0.3Ga0.7As, Sentaurus TCAD.