"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Особенности вольт-амперных характеристик в тонких проводящих слоях органических светодиодов
Никитенко B.P.1, Санникова H.A.1, Стриханов M.H.1
1Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", Москва, Россия
Поступила в редакцию: 21 января 2014 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2014 г.

Проведено аналитическое моделирование вольт-амперных характеристик в тонком органическом слое, помещeнном между проводящими электродами. Для этого разработана теоретическая модель, которая учитывает не только взаимодействие инжектированного носителя заряда с его зеркальным зарядом-"отражением" в ближайшем электроде, но и эффект многократных отражений, а также ток инжекции с противоположного электрода. Вольт-амперные характеристики при разных температурах и высотах барьера сравниваются с моделью, развитой ранее Архиповым и соавторами. Установлены пределы применимости этой модели. При низких температурах и малых значениях напряжения эффект многократных отражений становится существенным, что приводит к увеличению тока. Результаты необходимо учитывать при тестировании отдельных тонких слоeв, входящих в многослойные органические светодиоды.
  1. R.H. Friend, R.W. Gymer, A.B. Holmes, J.H. Burroughes, R.N. Marks, C. Taliani, D.D.C. Bradley, D.A. DosSantos, J.L. Bredas, M. Loglund, W.R. Salaneck. Nature, 397, 121, (1999)
  2. E. Knapp, R. Hausermann, H.U. Schwarzenbach, B. Ruhstaller. J. Appl. Phys., 108, 054 504 (2010)
  3. Y.F. Huang, A.R. Inigo, C.C. Chang, K.C. Li, C.F. Liang, C.W. Chang, T.S. Lim, S.H. Chen, J.D. White, U.S. Jeng, A.C. Su, Y.S. Huang, K.Y. Peng, S.A. Chen, W.W. Pai, C.H. Lin, A.R. Tameev, S.V. Novikov, A.V. Vannikov, W. Fann. Adv. Funct. Mater., 17, 2902 (2007)
  4. S. Raj Mohan, Manoranjan P. Singh, M.P. Joshi. Organic Electronics, 11, 1642 (2010)
  5. Н.А. Королeв, В.Р. Никитенко, Д.В. Иванов. ФТП, 45, 235 (2011)
  6. H. Bassler. Phys. Status Solidi B, 175, 15 (1993)
  7. T. van Woudenbergh, P.W.M. Blom, M.C.J.M. Vissenberg, J.N. Huiberts. Appl. Phys. Lett., 79, 1697 (2001)
  8. J.J.M. van der Holst, M.A. Uijttewaal, B. Ramachandhran, R. Coehoorn, P.A. Bobbert, G.A. de Wijs, R.A. de Groot. Phys. Rev. B, 79, 085 203 (2009)
  9. V.I. Arkhipov, E.V. Emelianova, Y.-H. Tak, H. Bassler. J. Appl. Phys., 84, 848 (1998)
  10. V.I. Arkhipov, U. Wolf, H. Bassler. Phys. Rev. B, 59, 7514 (1999)
  11. L. Onsager. Phys. Rev. 54, 554 (1938)
  12. R. Habercorn, M.E. Michel-Beyerle. Chem. Phys. Lett., 23 (1), 128 (1973)
  13. Yu.A. Genenko, S.V. Yampolskii, C. Melzer, K. Stegmaier, H. von Seggern. Phys. Rev. B, 81, 125 310-125 310-15 (2010)
  14. A. Miller, E. Abrahams. Phys. Rev. 120, 745 (1960)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.