Эффект вспышечной кинетики электролюминесценции в органических полупроводниках, обусловленный ланжевеновской рекомбинацией
Архипов В.И.1, Никитенко В.Р.1
1Московский государственный инженерно-физический институт (технический университет), Москва, Россия
Поступила в редакцию: 21 декабря 1998 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1999 г.
Кинетика электролюминесценции в органических полупроводниках теоретически исследована с учетом характерной для этих материалов сильной зависимости подвижности носителей заряда от напряженности электрического поля. Рекомбинация электронно-дырочной пары под влиянием как внешнего электрического поля, так и электрического поля кулоновского взаимодействия исследована в рамках теории Ланжевена. Показано, что неоднородность поля и зависимость подвижности от поля приводят к тому, что кинетика рекомбинации после выключения внешнего поля имеет вспышечный характер.
- Б.С. Яковлев, Г.Ф. Новиков. ФТТ, 17, 3070 (1985)
- В.И. Архипов, В.Р. Никитенко, А.И. Руденко. ФТП, 21, 1125 (1987)
- А.П. Тютнев, В.И. Архипов, В.Р. Никитенко, Д.Н. Садовничий. Химия высоких энергий, 29, 351 (1995)
- K.M. Hong, J. Noolandi. Chem. Phys., 69, 5026 (1978)
- А.П. Тютнев, А.В. Ванников, Г.С. Мингалеев. Радиационная электрофизика органических диэлектриков (М., 1989) с. 190
- В.И. Архипов, Ю.А. Попова, А.И. Руденко. ФТП, 17, 1817 (1983)
- В.И. Архипов, В.Р. Никитенко, А.И. Руденко. ФТП, 21, 1625 (1987)
- A. Peled, L.B. Schein. Chem. Phys., Lett., 153, 422 (1988)
- P.M. Borsenberger, L. Pautmeier, H. Baessler. J. Chem. Phys., 94, 447 (1991)
- L. Onsager. Phys. Rev., 54, 554 (1938)
- Y.H. Tak, J. Pommerehne, H. Vestweber, R. Sander, H.-H. Horhold, H. Baessler. Appl. Phys. Lett., 69, 1291 (1996)
- V.R. Nikitenko, V.I. Arkhipov, Y.H. Tak, J. Pommerehne, H. Baessler, H.-H. Horhold. J. Appl. Phys., 81, 7514 (1997)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук