Исследованы свойства арсенида галлия, легированного облучением реакторными нейтронами при высоких температурах. Показано, что состояние и свойства кристаллов арсенида галлия, облученных нейтронами при высокой температуре, не эквивалентны состоянию отожженных кристаллов после облучения при низкой температуре (=<sssim70^oС). Для различных температур облучения характерны различные спектры простых и сложных дефектов с различной термической стабильностью. Наличие в кристаллах, облученных при T>600^oС, остаточных точечных радиационных дефектов (РД), отжигающихся практически полностью при 200-300^oС, объясняется "самооблучением" (излучением самого материала), вызванным распадом нестабильных радиоактивных изотопов в процессе длительного хранения образцов. С ростом концентрации РД (при увеличении флюенса нейтронов) увеличивается вероятность образования сложных комплексов дефектов в процессе последующей термообработки при низких температурах. Последние отжигаются при более высоких температурах (400-600^oС).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.