"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Селективный захват межузельных атомов углерода в облученном кремнии
Маркевич В.П., Мурин Л.И.
Выставление онлайн: 19 апреля 1988 г.

Исследован отжиг межузельных атомов углерода (СI) в кристаллах кремния с различным содержанием кислорода (OI) и углерода (CS) после облучения gamma-квантами 60Co или быстрыми электронами (E~= 4 МэВ) при Tобл=<sssim280 K. Показано, что для небольших доз облучения CS и OI являются основными стоками для CI. Оценено отношение радиусов захвата CI атомами углерода и кислорода rCI-OI/rCI-CS~=3. Получено прямое экспериментальное подтверждение принадлежности комплексу CI-CS акцепторного уровня Ec-0.16 эВ.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.