Физика и техника полупроводников

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Синтез и определение структурных и оптических характеристик микропорошка cBN с ионами Eu³⁺

Леончик С.В.¹, Короткий А.В.¹

¹Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению, Минск, Беларусь Scientific and Practical Materials Research Center, National Academy of Sciences of Belarus, Minsk, Belarus

Scientific and Practical Materials Research Center, National Academy of Sciences of Belarus, Minsk, Belarus

Поступила в редакцию: 6 января 2013 г.

Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.

PDF версия

Синтез микропорошка кубического нитрида бора с ионами Eu³⁺ (cBN : Eu) был проведен в условиях высоких давлений и температур. Структурные, морфологические, химические и оптические характеристики микропорошка cBN : Eu были исследованы с использованием методов рентгеновской дифракции, энергодисперсионного рентгеноспектрального микроанализа, фотолюминесценции и оптического пропускания. Установлено, что значение постоянной решетки для cBN : Eu составляет ~ 3.615 Angstrem. Интенсивная люминесценция микропорошка cBN : Eu (красное свечение), зарегистрированная в видимой области спектра в диапазоне от 550 до 750 нм, отнесена к внутрицентровым 4f-электронным переходам на ионах Eu³⁺. Обсуждается возможная природа люминесценции микропорошка cBN : Eu.

A.J. Steckl, J.C. Heikenfeld, D.S. Lee, M.J. Garter, C.C. Baker, Y.Q. Wang, R. Jones. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 8, 749 (2002)
J.B. Gruber. J. Appl. Phys., 92, 5127 (2002)
A.J. Kenyon. Progr. Quant. Electron., 26, 225 (2002)
J.B. Gruber, U. Vetter, H. Hofsass, B. Zandi, M.F. Reid. Phys. Rev. B, 70, 245 108 (2004)
J.B. Gruber, U. Vetter, H. Hofsass, B. Zandi, M.F. Reid. Phys. Rev. B, 69, 195 202 (2004)
W.M. Jadwisienczak, H.J. Lozykowski, I. Berishev, A. Bensaoula, I.G. Brown. J. Appl. Phys., 89, 4384 (2001)
U. Vetter, P. Reinke, C. Ronning, H. Hofsass, P. Schaaf, K. Bharuth-Ram, T. Taniguchi Diam. Rel. Mater., 12 (3-7), 1182 (2003)
D.A. Evans, A.G. McGlynn, B.M. Towlson, M. Gunn, D. Jones, T.E. Jenkins, R. Winter, N. R.J. Poolton. J. Phys.: Condens. Matter, 20 (7), 075 233 (2008)
R.M. Chrenko. Sol. St. Commun., 14 (6), 511 (1974)
R.H. Wentorf, R.C. DeVries, F.P. Bundy. Science, 208, 873 (1980)
O. Mishima, K. Era. In: Electric Refractory Materials, ed. by Y. Kumashiro (N.Y., Marcell Dekker, Inc., 2002)
T. Taniguchi, J. Tanaka, O. Mishima, T. Ohsawa, S. Yamaoka. Appl. Phys. Lett., 62 (6), 576 (1993)
M.I. Eremets, M. Gauthier, A. Polian, J.C. Chervin, J.M. Besso, G.A. Dubitskii, Ye.Ye. Semenova. Phys. Rev. B, 52 (12), 8854 (1995)
S.N. Mohammad. Sol. St. Electron., 46 (2), 203 (2002)
A. Nakayama, T. Taniguchi, Y. Kubota, K. Watanabe, S. Hishita, H. Kanda. Appl. Phys. Lett., 87 (21), 211 913 (2005)
U. Vetter, H. Hofsass, T. Taniguchi. Appl. Phys. Lett., 84 (21), 4286 (2004)
U. Vetter, T. Taniguchi, U. Wahl, J. Correia, A. Muller, C. Ronning, H. Hofsass, M. Dietrich. MRS Proc., 744, 555 (2002)
Q.L. Liu, F.F. Xu, T. Tanaka. Appl. Phys. Lett., 81 (21), 3948 (2002)
Q.L. Liu, G.H. Yu, Y. Jiang. Chinese Phys. B, 18 (3), 1266 (2009)
Q.L. Liu, F.X. Zhang, T. Tanaka, T. Aizawa. Appl. Phys. Lett., 81 (1), 34 (2002)
A.V. Kurdyumov, V.L. Solozhenko, W.B. Zelyavski. J. Appl. Cryst., 28, 540 (1995)
А.В. Курдюмов, В.Б. Зелявский, С.Н. Громыко. Порошковая металлургия, 5--6, 100 (1998)
Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (М., Металлургия, 1982)
J. Rodriguez-Carvajal. Physica B, 192, 55 (1993)
D.J. Eaglesham, J. Michel, E.A. Fitzgerald, D.C. Jacobson, J.M. Poate, J.L. Benton, A. Polman, Y.-H. Xie, L.C. Kimerling. Appl. Phys. Lett., 58 (24), 2797 (1991)
A. Taguchi, M. Kawashima, K. Takahei, Y. Horikoshi. Appl. Phys. Lett., 63 (8), 1074 (1993)
J.A. Aitken, G.M. Tsoi, L.E. Wenger, S.L. Brock. Chem. Matter., 19, 5272 (2007)
I.C. Madsen, N.V.Y. Scarlet, L.M.D. Cranswick, T. Lwin. J. Appl. Cryst., 34, 409 (2001)
Е.М. Шишонок, С.В. Леончик, J.W. Steeds. Неорг. матер., 44 (5), 565 (2008)
А.А. Каминский. Лазерные кристаллы (М., Наука, 1975)
С.В. Леончик, А.В. Короткий. ЖПС, 79 (4), 610 (2012)
С.В. Леончик, А.В. Короткий, С.Ф. Паршутич, А.В. Пыск. ЖПС, 79 (5), 755 (2012)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель