"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Синтез и определение структурных и оптических характеристик микропорошка cBN с ионами Eu3+
Леончик С.В.1, Короткий А.В.1
1Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению, Минск, Беларусь
Поступила в редакцию: 6 января 2013 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.

Синтез микропорошка кубического нитрида бора с ионами Eu3+ (cBN : Eu) был проведен в условиях высоких давлений и температур. Структурные, морфологические, химические и оптические характеристики микропорошка cBN : Eu были исследованы с использованием методов рентгеновской дифракции, энергодисперсионного рентгеноспектрального микроанализа, фотолюминесценции и оптического пропускания. Установлено, что значение постоянной решетки для cBN : Eu составляет ~ 3.615 Angstrem. Интенсивная люминесценция микропорошка cBN : Eu (красное свечение), зарегистрированная в видимой области спектра в диапазоне от 550 до 750 нм, отнесена к внутрицентровым 4f-электронным переходам на ионах Eu3+. Обсуждается возможная природа люминесценции микропорошка cBN : Eu.
  • A.J. Steckl, J.C. Heikenfeld, D.S. Lee, M.J. Garter, C.C. Baker, Y.Q. Wang, R. Jones. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 8, 749 (2002)
  • J.B. Gruber. J. Appl. Phys., 92, 5127 (2002)
  • A.J. Kenyon. Progr. Quant. Electron., 26, 225 (2002)
  • J.B. Gruber, U. Vetter, H. Hofsass, B. Zandi, M.F. Reid. Phys. Rev. B, 70, 245 108 (2004)
  • J.B. Gruber, U. Vetter, H. Hofsass, B. Zandi, M.F. Reid. Phys. Rev. B, 69, 195 202 (2004)
  • W.M. Jadwisienczak, H.J. Lozykowski, I. Berishev, A. Bensaoula, I.G. Brown. J. Appl. Phys., 89, 4384 (2001)
  • U. Vetter, P. Reinke, C. Ronning, H. Hofsass, P. Schaaf, K. Bharuth-Ram, T. Taniguchi Diam. Rel. Mater., 12 (3-7), 1182 (2003)
  • D.A. Evans, A.G. McGlynn, B.M. Towlson, M. Gunn, D. Jones, T.E. Jenkins, R. Winter, N. R.J. Poolton. J. Phys.: Condens. Matter, 20 (7), 075 233 (2008)
  • R.M. Chrenko. Sol. St. Commun., 14 (6), 511 (1974)
  • R.H. Wentorf, R.C. DeVries, F.P. Bundy. Science, 208, 873 (1980)
  • O. Mishima, K. Era. In: Electric Refractory Materials, ed. by Y. Kumashiro (N.Y., Marcell Dekker, Inc., 2002)
  • T. Taniguchi, J. Tanaka, O. Mishima, T. Ohsawa, S. Yamaoka. Appl. Phys. Lett., 62 (6), 576 (1993)
  • M.I. Eremets, M. Gauthier, A. Polian, J.C. Chervin, J.M. Besso, G.A. Dubitskii, Ye.Ye. Semenova. Phys. Rev. B, 52 (12), 8854 (1995)
  • S.N. Mohammad. Sol. St. Electron., 46 (2), 203 (2002)
  • A. Nakayama, T. Taniguchi, Y. Kubota, K. Watanabe, S. Hishita, H. Kanda. Appl. Phys. Lett., 87 (21), 211 913 (2005)
  • U. Vetter, H. Hofsass, T. Taniguchi. Appl. Phys. Lett., 84 (21), 4286 (2004)
  • U. Vetter, T. Taniguchi, U. Wahl, J. Correia, A. Muller, C. Ronning, H. Hofsass, M. Dietrich. MRS Proc., 744, 555 (2002)
  • Q.L. Liu, F.F. Xu, T. Tanaka. Appl. Phys. Lett., 81 (21), 3948 (2002)
  • Q.L. Liu, G.H. Yu, Y. Jiang. Chinese Phys. B, 18 (3), 1266 (2009)
  • Q.L. Liu, F.X. Zhang, T. Tanaka, T. Aizawa. Appl. Phys. Lett., 81 (1), 34 (2002)
  • A.V. Kurdyumov, V.L. Solozhenko, W.B. Zelyavski. J. Appl. Cryst., 28, 540 (1995)
  • А.В. Курдюмов, В.Б. Зелявский, С.Н. Громыко. Порошковая металлургия, 5--6, 100 (1998)
  • Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (М., Металлургия, 1982)
  • J. Rodriguez-Carvajal. Physica B, 192, 55 (1993)
  • D.J. Eaglesham, J. Michel, E.A. Fitzgerald, D.C. Jacobson, J.M. Poate, J.L. Benton, A. Polman, Y.-H. Xie, L.C. Kimerling. Appl. Phys. Lett., 58 (24), 2797 (1991)
  • A. Taguchi, M. Kawashima, K. Takahei, Y. Horikoshi. Appl. Phys. Lett., 63 (8), 1074 (1993)
  • J.A. Aitken, G.M. Tsoi, L.E. Wenger, S.L. Brock. Chem. Matter., 19, 5272 (2007)
  • I.C. Madsen, N.V.Y. Scarlet, L.M.D. Cranswick, T. Lwin. J. Appl. Cryst., 34, 409 (2001)
  • Е.М. Шишонок, С.В. Леончик, J.W. Steeds. Неорг. матер., 44 (5), 565 (2008)
  • А.А. Каминский. Лазерные кристаллы (М., Наука, 1975)
  • С.В. Леончик, А.В. Короткий. ЖПС, 79 (4), 610 (2012)
  • С.В. Леончик, А.В. Короткий, С.Ф. Паршутич, А.В. Пыск. ЖПС, 79 (5), 755 (2012)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.