Эффект Холла в субмонослойных системах Fe на Si (111) n- и p-типа проводимости
Галкин Н.Г.1, Горошко Д.Л.2, Конченко А.В.1, Захарова Е.С.2, Кривощапов С.Ц.2
1Дальневосточный государственный технический университет, Владивосток, Россия
2Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук, Владивосток, Россия
Поступила в редакцию: 7 декабря 1999 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2000 г.
Методом in situ измерений эффекта Холла при комнатной температуре показано, что формирование атомарно-чистой поверхности кремния Si (111) 7x 7 при высокотемпературном отжиге (T=1250oC, t=120-180 с) кремния n-типа проводимости приводит к смене знака основных носителей тока на поверхности, а на поверхности кремния p-типа образуется обогащенный дырками слой. Различная динамика изменений холловского напряжения и напряжения сопротивления в пределах первого монослоя адсорбции железа на подложки как с p-n-переходом, так и со слоем, обогащенным дырками, не связана с проводимостью по адсорбированному слою. Проводимость в слое железа с толщиной более трех монослоев обусловлена в обоих случаях переносом электронов со слоевой концентрацией 2· 1013-2· 1014 см-2 и подвижностью 65-90 см2/(В·с).
- S. Neun, J. Bange, R. Schad, M. Henzler. J. Phys.: Condens. Matter., 5, 2913 (1993)
- F. Jentzsch, H. Froitzheim, R. Theile. J. Appl. Phys., 66, 5901 (1989)
- V.A. Gasparov, K.R. Nikolaev. Phys. Low-Dim. Structur. 1/2, 53 (1996)
- M. Henzler, C. Adamski, K. Ronner. J. Vac. Sci. Technol. A, 5, 2127 (1987)
- S. Hasegawa, S. Ino. Int. Modern Phys. B, 7, 3817 (1993)
- S. Hasegawa, X. Tong, C.-S. Jiang, Y. Nakajima, T. Nagao. Surf. Sci., 386, 322 (1997)
- X. Tong, C.-S. Jiang, S. Hasegawa. Phys. Rev. B, 57, 9015 (1998)
- Н.Г. Галкин, В.А. Иванов, А.В. Конченко, Д.Л. Горошко. ПТЭ, N 2, 154 (1999)
- E.G. Michel. Appl. Surf. Sci., 117/118, 294 (1997)
- J. Alvarez, A.L. Vazguez de Parga, J.J. Hinarejos, J. de la Figuera, E.G. Michel, C. Ocal, R. Miranda. Phys. Rev. B, 47, 16 048 (1993)
- K.L. Whiteaker, I.K. Robinson, C. Benson, D.M. Smilgies, N. Onda, H. von Kanel. Phys. Rev. B, 51, 9715 (1995)
- В.Л. Коньков. Завод. лаб., XXXII(4), 451 (1966)
- M. Liehr, M. Renier, R.A. Wachnik, G.S. Scilla. J. Appl. Phys., 61, 4619 (1987)
- В.В. Емцев, Т.В. Машовец. Примеси и точечные дефекты в полупроводниках (М., Радио и связь, 1981) гл. 2, с. 101
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.