"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Спектральная эллипсометрия наноалмазного композита
Ястребов С.Г.1, Гордеев С.К.2, Гаррига М.3, Алонсо И.А.3, Иванов-Омский В.И.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Центральный научно-исследовательский институт материалов, Санкт-Петербург, Россия
3Барселонский институт материаловедения, Беллатерра, Испания
Поступила в редакцию: 22 ноября 2005 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2006 г.

Методы спектральной эллипсометрии применены для анализа оптических свойств наноалмазного композита в диапазоне энергий фотонов 1.4-5 эВ, характерных для pi-pi*-переходов в аморфном углероде. Нанокомпозит синтезировался формовкой порошка наноалмаза и последующим связыванием алмазных наночастиц пироуглеродом за счет гетерогенной химической реакции разложения метана. Восстановлена дисперсия мнимой и действительной частей диэлектрической функции. Показано, что мнимую часть диэлектрической функции можно представить как сумму двух компонент, порождаемых двумя типами оптических переходов pi-pi*. Максимальный вклад переходов первого и второго типов проявляется при энергиях 2.6 и 5.6 эВ соответственно, что при переходе к оптической плотности дает энергии 2.9 и 6.11 эВ. Установлено, что основные особенности нормированной оптической плотности наноалмазного композита и поли(пара-фениленвинилена) практически совпадают. Определена энергия sigma+pi-плазмона пироуглеродной составляющей наноалмазного композита, 24.2 эВ, на основании этого значения сделана оценка плотности матрицы пироуглерода, которая оказалась равной 2 г/см3. С использованием представлений об оптимальном заполнении элементарного объема атомами углерода в аморфном материале такой плотности восстановлен аллотропный состав матрицы пироуглерода. PACS: 78.20.Ci, 78.66.Sq, 77.84.Df
  1. S.K. Gordeev, S.G. Zhukov, P.I. Belobrov, A.N. Smolianinov, Ju.P. Dikov. Patent USA 6083614. Publ. 04.07.2000
  2. С.К. Гордеев, С.Г. Жуков, Ю.И. Никитин, В.Г. Полторацкий. Неорг. матер., 31, 470 (1995).
  3. S.K. Gordeev. В сб.: Nanostructures carbon for advance applications (Kluwer Acad. Publ., 2001) p. 71
  4. С.К. Гордеев. Сверхтвердые материалы, N 6, 60 (2002)
  5. R.M.A. Azzam, N.M. Bashara. Ellipsometry and polarized light (Amsterdam-N. Y.-Oxford, 1977)
  6. C.D. Clark, P.J. Dean, P.V. Harris. Proc. Roy. Soc. A, 277, 312 (1964)
  7. J. Fink, Th. Muller-Heinzerling, J. Pfluger, B. Scheerer, B. Dischler, P. Koidl, A. Bubenzer, R.E. Sah. Phys. Rev. B, 30, 4713 (1984)
  8. В.И. Иванов-Омский, А. Таглиаферро, Г. Фанчини, С.Г. Ястребов. ФТП, 36, 117 (2002)
  9. J. Robertson, E.P. O'Reilly. Phys. Rev. B, 35, 2946 (1987)
  10. M. Chandross, S. Mazumdar, M. Liess, P.A. Lane, Z.V. Vardeny, M. Hamaguchi, K. Yashino. Phys. Rev. B, 55, 1486 (1997)
  11. J.T. Titantah, D. Lamoen. Phys. Rev. B, 70, 033 101 (2004)
  12. C. Mathioudakis, G. Kopidakis, P.C. Kelires. Phys. Rev. B, 70, 125 202 (2004).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.