Вышедшие номера
Сравнительные объемные и поверхностные свойства полупроводниковых твердых растворов систем InBV-ZnS
Переводная версия: 10.1134/S1063782620110147
Кировская И.А.1, Эккерт Р.В.1, Уманский И.Ю.1, Эккерт А.О.1, Кропотин О.В.1
1Омский государственный технический университет, Омск, Россия
Email: Kirovskaya@omgtu.ru
Поступила в редакцию: 22 июня 2020 г.
В окончательной редакции: 25 июня 2020 г.
Принята к печати: 29 июня 2020 г.
Выставление онлайн: 7 августа 2020 г.

В одинаковых условиях изучены объемные (кристаллохимические, структурные) и поверхностные (кислотно-основные) свойства полупроводниковых твердых растворов систем InBV-ZnS, отличающихся бинарными компонентами AIIIBV (InP, InAs). Установлены и обоснованы закономерности изменений изученных свойств с составом, которые носят преимущественно статистический (плавный) характер в системе InP-ZnS и с экстремальными проявлениями в системе InAs-ZnS. Исходные (экспонированные на воздухе) поверхности твердых растворов, как и бинарных компонентов систем, имеют слабокислый характер (pHiso< 7), что позволяет говорить об их повышенной активности по отношению к основным газам. Высказаны и подтверждены соображения о природе активных (кислотно-основных) центров. Установлена связь между поверхностными и объемными свойствами твердых растворов, открывающая возможности прогнозирования и менее затратного поиска новых, эффективных материалов для полупроводникового газового анализа без трудоемких исследований поверхностных свойств. Ключевые слова: полупроводники, твердые растворы, новые материалы, объемные и поверхностные свойства, взаимосвязанные закономерности, полупроводниковый газовый анализ.
  1. X. Fang, T. Zhai, U.K. Gautam, L. Li, L. Wu, Y. Bando, D. Golderg. Progr. Mater. Sci., 56 (2), 175 (2011)
  2. И.А. Кировская. Физико-химические свойства бинарных и многокомпонентных алмазоподобных полупроводников (Новосибирск, Изд-во СО РАН, 2015)
  3. С.С. Горелик, Л.Н. Расторгуев, Ю.А. Скаков. Рентгенографический и электроно-оптический анализ (М., Металлургия, 1970)
  4. Е.Ф. Смыслов. Завод. лаб. Диагностика материалов, 72 (5), 33 (2006)
  5. Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт. Микроскопические методы исследования материалов (М., Техносфера, 2007)
  6. Дж Гоулдстейн. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Кн. 1 (М., Мир, 1984)
  7. Л.Г. Майдановская. Каталитические реакции в жидкой фазе (Алма-Ата, Изд-во АН КазССР, 1963)
  8. И.А. Кировская. Адсорбционные процессы (Иркутск, Изд-во ИГУ, 1995)
  9. И.А. Кировская, Е.В. Миронова, А.А. Григан, А.О. Мурашова. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 1, 74 (2020)
  10. И.А. Кировская, П.Е. Нор, Е.В. Миронова, Т.А. Кировская. Адсорбенты на основе систем типа AIIBVI -AIIBVI --n- материалы для полупроводникового газового анализа (Новосибирск, Изд-во СО РАН, 2018)
  11. В.Ф. Киселев. Поверхностные явления в полупроводниках и диэлектриках (М., Наука, 1984)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.