Вышедшие номера
Home » Физика и техника полупроводников » Год 2019, выпуск 12 » Статья стр. 1692
<<<>>>
Модификация смачиваемости углеродных нанотрубок с помощью ионного облучения
DOI: 10.21883/FTP.2019.12.48629.9207
Переводная версия: 10.1134/S1063782619160188
Российский Научный Фонд, 18-72-00149
Морковкин А.И. 1, Воробьева Е.А. 2, Евсеев А.П. 1,2, Балакшин Ю.В. 2,3, Шемухин А.А. 2,3
1Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (физический факультет), Москва, Россия
2Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (НИИЯФ им. Д.В. Скобельцина), Москва, Россия
3Центр квантовых технологий Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Email: a.i.morkovkin@physics.msu.ru
Поступила в редакцию: 8 июля 2019 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2019 г.
PDF версия
Приведены результаты исследования изменения смачиваемости коммерческих многостенных углеродных нанотрубок (МУНТ) Таунит-МД в результате облучения ионами Ar+ c энергией 120 кэВ различными флюенсами. При помощи спектроскопии комбинационного рассеяния света и сканирующей электронной микроскопии исследована структура облученных МУНТ, и проведен рентгеноспектральный микроанализ образцов. Рассмотрены зависимости среднего диаметра МУНТ, концентрации O2 и дефектности МУНТ в образцах от флюенса облучения, а также их влияние на угол смачиваемости дистиллированной водой, этиленгликолем и циклогексаном. Обсуждаются возможность и перспективы использования ионно-пучковых методов модификации для контролируемого изменения угла смачиваемости с целью создания гидрофобного или гидрофильного к различным видам жидкостей покрытия из МУНТ. Ключевые слова: ионное облучение, многостенные углеродные нанотрубки, сканирующая электронная микроскопия, комбинационное рассеяние света, смачиваемость, метод сидячей капли.
  1. S. Iijima. Nature, 354, 56 (1991)
  2. E.M. Elsehly, N.G. Chechenin, A.V. Makunin, A.A. Shemukhin, H.A. Motaweh. Rad. Phys. Chem., 146, 19 (2018)
  3. K.D. Kushkina, A.A. Shemukhin, E.A. Vorobyeva, K.A. Bukunov, A.P. Evseev, A.A. Tatarintsev, K.I. Maslakov, N.G. Chechenin, V.S. Chernysh. Nucl. Instr. Meth. B, 430, 11 (2018)
  4. V.A. Kobzev, N.G. Chechenin, K.A. Bukunov, E.A. Vorobyeva, A.V. Makunin. Materials Today: Proceedings, 5 (12), 26096 (2018)
  5. V.I. Kleshch, A.A. Tonkikh, S.A. Malykhin, E.V. Redekop, A.S. Orekhov, A.L. Chuvilin, E.D. Obraztsova, A.N. Obraztsov. Appl. Phys. Lett., 109 (14), 143112 (2016)
  6. A.A. Krylov, S.G. Sazonkin, N.R. Arutyunyan, V.V. Grebenyukov, A.S. Pozharov, D.A. Dvoretskiy, E.D. Obraztsova, E.M. Dianov. J. Opt. Soc. Am. B, 33 (2), 134 (2016)
  7. A.I. Chernov, V.A. Eremina, J. Shook, A. Collins, P. Walker, P.V. Fedotov, A.A. Zakhidov, E.D. Obraztsova. Phys. Status Solidi B, 255 (1), 1700139 (2018)
  8. D.J. Liaw, N.R. Arutyunyan, W.-H. Chiang, V.A. Eremina, E.P. Kharitonova, E.D. Obraztsova. Phys. Status Solidi B, 255 (1), 1700283 (2018)
  9. F.D. Nicola, P. Castrucci, M. Scarselli, F. Nanni, I. Cacciotti, M.D. Crescenzi. Nanotechnology, 26 (14), 145701 (2015)
  10. P. Das, S. Dhal, S. Ghosh, S. Chatterjee, C.S. Rout, N. Ramgir, S. Chatterjee. Nucl. Instr. Meth. B, 413, 31 (2017)
  11. S.H. Lu, M.H.N. Tun, Z.J. Mei, G.H. Chia, X. Lim, C. Sow. Langmuir, 25 (21), 12806 (2009)
  12. B. Bhushan, Y.C. Jung. Ultramicroscopy, 7, 1033 (2007)
  13. H. Kyakuno, M. Fukasawa, R. Ichimura, K. Matsuda, Y. Nakai, Y. Miyata, T. Saito, Y. Maniwa. J. Chem. Phys., 145, 064514 (2016)
  14. A. Ghasemi, H. Amiri, H. Zare, M. Masroor, A. Hasanzadeh, A. Beyzavi, A.R. Aref, M. Karimi, M.R. Hamblin. Microfluid. Nanofluidics, 21, 1 (2017)
  15. L. Yu, H. Hu, H.B. Wu, X.W. Lou. Adv. Mater., 29 (15), 1604563 (2017)
  16. G. Wu, P. Tan, D. Wang, Z. Li, L. Peng, Y. Hu, C. Wang, W. Zhu, S. Chen, W. Chen. Sci. Rep., 7, 43676 (2017)
  17. G.K. Dimitrakakis, E. Tylianakis, G.E. Froudakis. Nano Lett., 8, 3166 (2008)
  18. J.-M. Tulliani, B. Inserra, D. Ziegel. Micromachines, 10, 232 (2019)
  19. J. Yang, Z. Zhang, X. Men, X. Xu, X. Zhu. Langmuir, 26, 10198 (2010)
  20. Y. Zhang, L. Chen, Z. Xu, Y. Li, M. Shan, L. Liu, Q. Guo, G. Chen, Z. Wang, C. Wang. Int. J. Mater. Product Technol., 45, 1 (2012)
  21. S. Baldo, V. Scuderi, L. Tripodi, A. La Magna, S.G. Leonardi, N. Donato, G. Neri, S. Filice, S. Scalese. J. Sens. Sens. Syst., 4, 25 (2015)
  22. Yu.V. Balakshin, A.A. Shemukhin, A.V. Nazarov, A.V. Kozhemiako, V.S. Chernysh. Tech. Phys., 63 (12), 1861 (2018)
  23. A.V. Kozhemiako, A.P. Evseev, Yu.V. Balakshin, A.A. Shemukhin. Semiconductors, 53 (6), 800 (2019)
  24. A.A. Shemukhin, Yu.V. Balakshin, A.P. Evseev, V.S. Chernysh. Nucl. Instr. Meth. B, 406, 507 (2017)
  25. M.S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, R. Saito, A. Jorio. Phys. Rep., 409, 47 (2005)
  26. S. Costa, E. Borowiak-Palen, M. Kruszynska, A. Bachmatiuk, R.J. Kalenczuk. Mater. Sci.-Pol., 26 (2), 434 (2008)
  27. L. Bokobza, J. Zhang. eXPRESS Polym. Lett., 6 (7), 601 (2012)
  28. A. Sadezky, H. Muckenhuber, H. Grothe, R. Niessner, U. Poschl. Carbon., 43, 1731 (2005)
  29. S. Vollebregt, R. Ishihara, F.D. Tichelaar, Y. Hou, C.I.M. Beenakker. Carbon, 50, 3542 (2012)
  30. J.H. Lehman, M. Terrones, E. Mansfield, K.E. Hurst, V. Meunierg. Carbon, 49, 2581 (2011)
  31. N. Chakrapani, S. Curran, B. Wei, P.M. Ajayan, A. Carrillo, R.S. Kane. J. Mater. Res., 18 (10), 2515 (2003)
  32. H. Dai, A. Javey, E. Pop, D. Mann, W. Kim, Y. Lu. NANO: Brief Rep. Rev., 1 (1), 1 (2006)
  33. M. Pavese, S. Musso, S. Bianco, M. Giorcelli, N. Pugno. J. Phys.: Condens. Matter, 20, 474206 (2008).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme