Вышедшие номера
Экситонные эффекты и примесно-дефектное излучение в GaAs/AlGaAs-структурах, применяемых для изготовления детекторов среднего ИК-диапазона
Переводная версия: 10.1134/S1063782619160139
Кривобок В.С.1, Литвинов Д.А.1, Николаев С.Н.1, Онищенко Е.Е.1, Пашкеев Д.А.1,2, Чернопицский М.А.1, Григорьева Л.Н.1
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
2АО "НПО Орион", Москва, Россия
Email: Ln.grigorjeva@physics.msu.ru
Поступила в редакцию: 11 июля 2019 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2019 г.

С помощью молекулярно-пучковой эпитаксии получена серия нелегированных GaAs/AlxGa1-xAs-гетероструктур с множественными квантовыми ямами, легированные аналоги которых используются при создании фотоприемников на спектральный диапазон 8-12 мкм. Для выращенных гетероструктур установлено спектральное положение линий поглощения, соответствующих разрешенным переходам между электронными и дырочными уровнями размерного квантования в GaAs-слоях. Исследовано влияние примесно-дефектных состояний на спектры люминесценции и поглощения квантовых ям. Определены величины экситонных поправок для разрешенных переходов в зависимости от ширины квантовой ямы и содержания алюминия в барьерных слоях. Обсуждается роль экситонных эффектов при восстановлении структуры одноэлектронных состояний по спектрам межзонного поглощения (возбуждения люминесценции), а также связь этих состояний с рабочим диапазоном ИК-фотоприемников на основе GaAs/AlxGa1-xAs-квантовых ям. Ключевые слова: квантовая яма, люминесценция, экситон, ИК-детектор.