Вышедшие номера
Оценка вклада поверхностной рекомбинации в микродисковых лазерах с помощью высокочастотной модуляции
Переводная версия: 10.1134/S1063782619080220
Russian Science Foundation , 18-12-00287
Жуков А.Е. 1,2, Моисеев Э.И.1, Крыжановская Н.В.1,2, Блохин С.А. 3, Кулагина М.М.3, Гусева Ю.А.3, Минтаиров С.А.3,1, Калюжный Н.А.3,1, Можаров А.М.1, Зубов Ф.И.1, Максимов М.В.1
1Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: zhukale@gmail.com, Blokh@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 11 марта 2019 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2019 г.

Исследованы микродисковые лазеры диаметром 10-30 мкм, работающие при комнатной температуре без термостабилизации, с активной областью на основе наноструктур гибридной размерности - квантовых ям-точек. Выполнены высокочастотные измерения отклика микролазеров в режиме прямой малосигнальной модуляции, с помощью которых установлены параметры быстродействия и проведен их анализ в зависимости от диаметра микролазера. Обнаружено, что K-фактор составляет (0.8±0.2) нс, что соответствует оптическим потерям ~ 6 см-1, и при этом не наблюдается регулярная зависимость от диаметра. Обнаружено, что низкочастотная компонента коэффициента затухания релаксационных колебаний обратно пропорциональна диаметру. Такой характер зависимости свидетельствует об уменьшении времени жизни носителей заряда в микрорезонаторах малого диаметра, что может быть связано с преобладанием в них безызлучательной рекомбинации на боковых стенках. Ключевые слова: микрорезонатор, микролазер, поверхностная рекомбинация, высокочастотная модуляция.