Вышедшие номера
Кристаллические дефекты в фотопреобразователях, полученных методом термомиграции
Лозовский В.Н.1, Ломов А.А.2, Лунин Л.С.1, Середин Б.М.1, Чесноков Ю.М.3
1Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова, Новочеркасск, Россия
2Физико-технологический институт Российской академии наук, Москва, Россия
3Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
Email: seredinboris@gmail.com
Поступила в редакцию: 12 апреля 2016 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2017 г.

Приводятся результаты исследований кристаллической структуры областей кремния, перекристаллизованных в процессе термомиграции жидкой кремний-алюминиевой зоной. Подобные области, легированные акцепторной примесью, необходимы для получения высоковольтных фотопреобразователей. С помощью рентгеновских дифракционных методов двухкристальных кривых отражения и топографии, а также просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения установлено, что при проведении термомиграции жидких зон в виде серии тонких полос или прямоугольных сеток формируются монокристаллические области. Выявлены дислокационные полупетли, которые лежат в поверхностных слоях лицевой и тыльной сторон подложки. В перекристаллизованных областях обнаружены 311-дефекты. DOI: 10.21883/FTP.2017.03.44196.8264