"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Об оценках температуры плавления графеноподобных соединений
Давыдов С.Ю.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 6 апреля 2015 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2015 г.

Обсуждаются три подхода к определению температуры плавления, понимаемой как температура термической неустойчивости двумерной гексагональной структуры: 1) приближение Найи, Изири и Ишии; 2) критерий Линдеманна; 3) критерий Борна. Для количественных оценок используется метод связывающих орбиталей Харрисона. Рассмотрены графен, силицен, германен и 12 соединений A4B4 и A3B5. Показано, что критерии Линдеманна и Борна приводят к близким и более реальным результатам, чем приближение Найи, Изири и Ишии. Для грубой оценки объемной" и поверхностной" температур плавления предлагаются соответственно следующие выражения: Tb~104 K/a2 и Ts~2Tb/3, где расстояние между ближайшими соседями a задается в Angstrem.
  1. С.М. Стишов. УФН, 114 (1), 3 (1974)
  2. K.J. Strandburg. Rev. Mod. Phys., 60 (1), 162 (1988) (Erratum: Rev. Mod. Phys., 61 (3), 747 (1988))
  3. J.G. Dash. Rev. Mod. Phys., 71 (5), 1737 (1999)
  4. Q.S. Mei, K. Lu. Prog. Mater. Sci., 52 (8), 1175 (2007)
  5. T. Matsubara. J. Phys. Soc. Jpn., 40 (2), 603 (1976)
  6. T. Matsubara, K. Kamiya. Prog. Theor. Phys., 58 (3), 767 (1977)
  7. T. Hama, T. Matsubara. Prog. Theor. Phys., 59 (5), 1407 (1978)
  8. S. Naya, M. Iziri, T. Ishii. Prog. Theor. Phys., 60 (5), 1604 (1978)
  9. Y. Aikawa, K. Fujii. Materials Transections, 50 (2), 249 (2009)
  10. А.В. Елецкий, И.М. Искандарова, А.А. Книжник, Д.Н. Красиков. УФН, 181 (3), 233 (2011)
  11. А.Е. Галашев, О.Р. Рахманова. УФН, 184 (10), 1045 (2014)
  12. X. Li, X. Wang, L. Zhang, S. Lee, H. Dai. Science, 319, 1229 (2008)
  13. J. Hu, X. Ruan, Y.P. Chen. Nano Lett., 9 (7), 2730 (2009)
  14. K.V. Zakharchenko, A. Fasolino, J.H. Los, M.I. Katsnelson. J. Phys.: Condens. Matter, 23, 202 202 (2011)
  15. А.В. Елецкий. УФН, 177 (3), 233 (2007)
  16. У. Харрисон. Электронная структура и свойства твердых тел (М.,Мир, 1983) т. 1, с. 383
  17. W.A. Harrison. Phys. Rev. B, 27 (6), 3592 (1983)
  18. С.Ю. Давыдов, О.В. Посредник. ФТТ, 57 (4), 819 (2015)
  19. В.В. Бражкин. УФН, 179 (4), 393 (2009)
  20. Y. Hu, B. Wang. AIP Advancies, 3, 052 101 (2013)
  21. T. Suzuki, Y. Yokomizo. arXiv: 1004.3638
  22. G. Mukhopadhyay, H. Behera. arXiv: 1210.3308
  23. Л.А. Фальковский. ЖЭТФ, 132 (8), 446 (2007)
  24. Л.А. Фальковский. ЖЭТФ, 142 (3), 560 (2012)
  25. R.F. Wallis, A.A. Maradudin, L. Dobrzyanski. Phys. Rev. B, 15 (12), 5681 (1977)
  26. J. Dietel, H. Kleinert. Phys. Rev. B, 79, 075 412 (2009)
  27. L. Pietronero, E. Tosatti. Sol. St. Commun., 32 (3), 255 (1979)
  28. С.П. Никаноров, Б.К. Кардашов. Упругость и дислокационная неупругость кристаллов (М., Наука, (1985)
  29. Y.P. Varshni. Phys. Rev. B, 2 (10), 3952 (1970)
  30. A.I. Savvatimskiy. Carbon 43 (6), 1115 (2005)
  31. S.G. Kim, D. Tomanek. Phys. Rev. Lett. 72 (15), 2418 (1994)
  32. K. Zhang, G.M. Stocks, J. Zhong. Nanotechnology, 18, 285 703 (2007)
  33. F. Colonna, J.H. Los, A. Fasolino, E.J. Meijer. Phys. Rev. B, 80, 134 103 (2009)
  34. G.-D. Lee, C.Z. Wang, E. Yoon, N.-M. Hwang, K.M. Ho. Phys. Rev. B, 81, 195 419 (2010)
  35. S.K. Singh, M. Neek-Amal, F.M. Peeters. arXiv: 1304.6010
  36. Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. Статистическая физика (М., Наука, 1976)
  37. N.D. Mermin. Phys. Rev., 176, 250 (1968)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.