Вышедшие номера
Влияние кластеров дефектов на перераспределение легирующей примеси в n- и p-Si0.7Ge0.3 в процессе реакторного облучения
Долголенко А.П.1
1Институт ядерных исследований Национальной академии наук, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 15 апреля 1998 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1999 г.

Образцы n- и p-типа проводимости твердого раствора кремний-германий с удельным сопротивлением (1/ 2· 10-3 Ом·см, легированные естественной смесью изотопов фосфора и бора, были исследованы в процессе облучения в активной зоне реактора BBP-M при температуре (200/ 500)oC. Дозовая зависимость удельного сопротивления и термоэдс образцов описана в рамках теории эффективной среды. Оказалось возможным детально ее вычислить при условии, что кластеры являются эффективными зародышами для осаждения легирующих примесей. Определены объемы захвата кластерами легирующих примесей бора и фосфора в процессе облучения и вычислены среднестатистические радиусы кластеров дефектов и сечение их введения. Показано, что преципитация фосфора в основном уменьшает концентрацию носителей в проводящей матрице образца при облучении, а захват бора изменяет концентрацию носителей в кластерах.