Вышедшие номера
Влияние промежуточного низкотемпературного нагрева на преципитацию в нестехиометрическом GaAs
РНФ, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований малыми отдельными научными группами, 25/2022
Снигирев Л.А. 1, Берт Н.А.1, Преображенский В.В. 2, Путято М.А. 2, Семягин Б.Р. 2, Чалдышев В.В. 1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Email: leonidsnigirev17@gmail.com
Поступила в редакцию: 10 августа 2023 г.
В окончательной редакции: 22 августа 2023 г.
Принята к печати: 28 августа 2023 г.
Выставление онлайн: 22 октября 2023 г.

Методом просвечивающей электронной микроскопии изучалась начальная стадия формирования преципитатов при постростовом отжиге нестехиометрических GaAs и GaAs0.97Sb0.03, выращенных молекулярно-пучковой эпитаксией при низкой (150oC) температуре на подложке GaAs(001) с промежуточным прерыванием роста и нагревом до 250oC. Обнаружено, что кратковременный промежуточный нагрев, несмотря на низкую температуру, приводит к выпадению более крупных частиц при последующем постростовом отжиге по сравнению с материалом, не подвергавшемся такому нагреву. Этот эффект объясняется высокой концентрацией избыточного мышьяка в LT-GaAs и LT-GaAs0.97Sb0.03, выращенных при 150oC, усиленной диффузией вследствие высокой концентрации неравновесных вакансий галлия и беспороговым возникновением зародышей. Ключевые слова: нестехиометрический арсенид галлия, LT-GaAs, преципитация.