"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Effect of Complexing Agents on Structural, Morphological, and Optical Properties of Chemically Deposited ZnO Thin Films
Raidou A.1
1Materials and Subatomic Physics Laboratory, Department of Physics, Faculty of Sciences, Ibn Tofail University, B.P 133, K.nitra, Morocco
Email: abderrahim.raidou@uit.ac.ma
Поступила в редакцию: 22 августа 2020 г.
Выставление онлайн: 11 мая 2021 г.

Two ZnO thin films have been chemically elaborated on glass substrates by successive ionic layer adsorption and reaction method using two different complexing agents, ammonia and ammonium hydroxide. X-ray diffraction study confirmed the hexagonal wurtzite structure for both films that are polycrystalline with preferential direction (002). Scanning electron microscopy showed an agglomeration of small grains throughout the substrate surfaces, with morphological changes and the existence of an uncovered part of substrates. The film prepared using NH4OH showed a higher transmittance. The optical band gap values for the films are close to 3.36 and 3.33 eV, respectively. Keywords: thin films, ZnO, complexing agents, SILAR method, semiconductors.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.