Фотоэлектрические и люминесцентные свойства наногетероструктур на основе GaSb с глубокой квантовой ямой Al(As)Sb/InAsSb/Al(As)Sb, выращенных методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений
Михайлова М.П.1, Андреев И.А.1, Иванов Э.В.1, Коновалов Г.Г.1, Гребенщикова Е.А.1, Яковлев Ю.П.1, Hulicius E.2, Hospodkova A.2, Pangrac Y.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Institute of Physics, Academy of Sciences of Czech Republic, v.v.i Prague, Czech Republic
Поступила в редакцию: 29 декабря 2012 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2013 г.
Исследованы люминесцентные и фотоэлектрические свойства гетероструктур с глубокой квантовой ямой Al(As)Sb/InAsSb/Al(As)Sb, выращенных на подложках n-GaSb методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений. Наблюдалась интенсивная суперлинейная люминесценция и увеличение оптической мощности в зависимости от тока накачки в диапазоне энергий фотонов 0.6-0.8 эВ при температурах T=77 и 300 K. Детально изучены фотоэлектрические, вольт-амперные и емкостные характеристики исследуемых наноструктур. Фотоответ исследовался при работе фотодетектора в фотовольтаическом режиме в спектральном диапазоне 0.9-2.0 мкм. Максимум чувствительности при комнатной температуре наблюдался на длине волны 1.55 мкм. Проведены оценки квантовой эффективности, обнаружительной способности и быстродействия фотодетекторов. Квантовая эффективность и обнаружительная способность в максимуме спектра при комнатной температуре достигали величин eta=0.6-0.7 и D*lambdamax=(5-7)· 1010 см·Гц1/2·Вт-1 соответственно. Быстродействие фотодиода, определяемое по времени нарастания импульса фотоотклика на уровне 0.1-0.9, составляет величину 100-200 пс. Полоса пропускания фотодиодов достигает 2-3 ГГц. Фотодетекторы с глубокой квантовой ямой Al(As)Sb/InAsSb/Al(As)Sb, выращенные на подложках n-GaSb, перспективны для использования в системах гетеродинного приема и в информационных технологиях.
- S. Haywood, M. Missons. In: Mid-Infrared Semiconductor Optoelectronics, ed. by A. Krier (Springer Series in Optical Sciences, 2006) p. 429
- B.E. Levine. J. Appl. Phys., 74, R1 (1996)
- E. Luna, A. Gusman, J. Sanches-Rocha et al. Infr. Phys. Technol., 44, 383 (2003)
- N. Georgiev, T. Dekorsy, F. Eichhorn, M. Helm, M.P. Semtsiv, W.T. Masselink. Appl. Phys. Lett., 83, 210 (2003)
- Y. Touv skova, E. Hulicius, J. Pangrac, T. v Simev cek, V. Yurka, P. Hubik, Y.Y. Marev s, Y. Kriv stofik. Appl. Phys. Lett., 95, 1811 (2004)
- М.П. Михайлова, Э.В. Иванов, К.Д. Моисеев, Ю.П. Яковлев, E. Hulicius, A. Hospodkova, J. Pangrac, T. v Simev cek. ФТП, 44 (2), 69 (2010)
- М.П. Михайлова, И.А. Андреев, К.Д. Моисеев, Э.В. Иванов, Г.Г. Коновалов, М.Ю. Михайлов, Ю.П. Яковлев. ФТП, 45 (2), 251 (2011)
- K.D. Moiseev, E.V. Ivanov, G.G. Zegrya, M.P. Mikhailova, Yu.P. Yakovlev, E. Hulicius, A. Hospodkova, J. Pangrac, K. Melichar, T. v Simev cek. Appl. Phys. Lett., 88, 132 102 (2006)
- M.P. Mikhailova, E.V. Ivanov, L.V. Danilov, K.V. Kalinina, N.D. Stoyanov, G.G. Zegrya, Yu.P. Yakovlev, E. Hulicius, A. Hospodkova, J. Pangrac, M. Zikova. J. Appl. Phys., 112 (2), 023108 (2012)
- H. Kroemer. Physica E, 20 (3--4), 196 (2004)
- Л.В. Данилов, Г.Г. Зегря. ФТП, 42 (5), 566 (2008) [Semiconductors, 42, 550 (2008)]
- J.H. Smet, L.H. Peng, Y. Hirayama, G.G. Tonslad. Appl. Phys. Lett., 64, 986 (1994)
- Yu.P. Yakovlev, I.A. Andreev, S.S. Kizhaev, E.V. Kunitsyna, M.P. Mikhailova. Proc. SPIE, 6636, 66360D-1 (2000)
- M.P. Mikhailova, I.A. Andreev, K.D. Moiseev, E.V. Ivanov, N.D. Stoyanov, Yu.P. Yakovlev, E. Hulicius, A. Hospodkova, J. Pangrac, K. Melichar. Proc. SPIE, 7138, 713 813 (2008)
- Каталог фирмы Hamamatsu Photonics: http://hamamatsu.com
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.