Синтез InGaN-наноструктур развитой морфологии на кремнии: влияние температуры подложки на морфологические и оптические свойства
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, RFMEFI61619X0115
Резник Р.Р.1, Гридчин В.О.2, Котляр К.П.2, Крыжановская Н.В.2, Морозов С.В.3,4, Цырлин Г.Э.2,5
1Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
3Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
4Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
5Институт аналитического приборостроения Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Email: moment92@mail.ru
Поступила в редакцию: 15 апреля 2020 г.
В окончательной редакции: 21 апреля 2020 г.
Принята к печати: 21 апреля 2020 г.
Выставление онлайн: 11 июня 2020 г.
Исследована зависимость морфологических характеристик и оптических свойств InGaN-наноструктур разветвленной морфологии на поверхности Si(111) от температуры подложки при выращивании методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Показано, что при увеличении температуры подложки увеличивается высота наноколонн InGaN, формирующихся на начальном этапе роста. Увеличение температуры роста InGaN-наноструктур также приводит к увеличению интенсивности спектров фотолюминесценции от таких структур, причем зависимости интегральной интенсивности фотолюминесценции от плотности мощности возбуждения являются линейными. Эти факты указывают на перспективность структур для оптических приложений, в частности для создания белых светодиодов на основе единого материала. Ключевые слова: наноструктуры, InGaN, кремний, молекулярно-пучковая эпитаксия, полупроводники, оптоэлектроника.
- T.D. Moustakas, E. Iliopoulos, A.V. Sampath, H.M. Ng, D. Doppalapodi, M. Misra, D. Korakakis, R. Singh. J. Cryst. Growth, 227, 13 (2001)
- J. Li, J.Y. Lin, H.X. Jiang. Appl. Phys. Lett., 93 (16), 162107 (2008)
- F.K. Yam, Z. Hassan. Superlatt. Microstr., 43 (1), 23 (2008)
- I. Ho, G.B. Stringfellow. Appl. Phys. Lett., 69 (18), 2703 (1996)
- M. Lopez, M. Auf der Maur, A. Pecchia, F. Sacconi, G. Penazzi, A. Di Carlo. IEEE, 113 (2013)
- H.J. Xiang, W. Su-Huai, J.L.F. Da Silva, L. Jingo. Phys. Rev. B, 78 (19), 193301 (2008)
- V.G. Dubrovskii, G.E. Cirlin, V.M. Ustinov. Semiconductors, 43 (12), 1539 (2009)
- R.R. Reznik, K.P. Kotlyar, N.V. Kryzhanovskaya, S.V. Morozov, G.E. Cirlin. Tech. Phys. Lett., 45 (11), 1113 (2019)
- R.R. Reznik, K.P. Kotlyar, I.V. Il'kiv, I.P. Soshnikov, S.A. Kukushkin, A.V. Osipov, E.V. Nikitina, G.E. Cirlin. Phys. Solid State, 58 (10), 1952 (2016)
- F. Glas, J.-C. Harmand. Phys. Rev. B, 73 (15), 155320 (2006)
- N.V. Sibirev, I.P. Soshnikov, V.G. Dubrovskii, E. Arshansky. Tech. Phys. Lett., 32 (4), 292 (2006)
- A.R. Denton, N.W. Ashcroft. Phys. Rev. A, 43 (6), 3161 (1991)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.