Вышедшие номера
Люминесценция нелегированных и легированных хлором слоев Zn 1- xCd xSe и Zn 1- xMg xS y Se 1- y, полученных методом молекулярно-пучковой эпитаксии
Иванов С.В.1, Леденцов Н.Н.1, Максимов М.В.1, Торопов А.А.1, Шубина Т.В.1, Сорокин С.В.1, Парк, Х.С.1, Ким, Д.Р.1, О, Э.С.1, Джонг, Х.Д.1, Парк, С.Х.1, Копьев П.С.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 2 марта 1995 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1995 г.

Исследованы температурные зависимости краевой фотолюминесценции нелегированных и легированных хлором (Cl) слоев Zn1-xMgxSySe1-y (0<x<0.05, 0<y<0.25) и Zn1-xCdxSe (0<x<0.2), выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложках GaAs (100). Показано, что флуктуации состава твердого раствора, наиболее выраженные для слоев ZnSySe1-y(Zn1-xCdxSe) с большим содержанием S (Cd), приводит к существенному уширению линии экситонной люминесценции. При гелиевых температурах локализация экситонов на флуктуациях состава приводит к возрастанию интегральной интенсивности фотолюминесценции твердых растворов по сравнению с чистыми слоями ZnSe при малых плотностях возбуждения. При 77 K происходит делокализация экситонов и носителей существенно уменьшается интегральная интенсивность краевой фотолюминесценции. Умеренное легирование хлором (1017/1018 см-3) вызывает гигантское увеличение интенсивности краевой фотолюминесценции в слоях ZnSe и ZnSySe1-y. Реализованы инжекционные лазеры с квантовыми ямами в системе ZnSe-ZnCdSe, работающие при 77 K в импульсном режиме (пороговая плотность тока 600 А/см2) и лазеры, работающие при комнатной температуре в импульсном режиме на структурах с эмиттерами ZnSSe, согласованными по параметру решетки с подложкой GaAs.