Физика и техника полупроводников,
2015,
том 49,
выпуск 2
XVIII симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" , Нижний Новгород, 10-14 марта 2014 г.
Волкова Н.С., Горшков А.П., Тихов C.В., Байдусь Н.В., Хазанова С.В., Дегтярев В.Е., Филатов Д.О.
Вергелес П.С., Якимов Е.Б.
Зиновьев В.А., Двуреченский А.В., Кучинская П.А., Армбристер В.А., Тийс С.А., Шкляев А.А., Мудрый А.В.
Кривулин Н.О., Пирогов А.В., Павлов Д.А., Бобров А.И.
Емельянов Е.А., Путято М.А., Семягин Б.Р., Феклин Д.Ф., Преображенский В.В.
Фатеев Д.В., Мельникова В.С., Попов В.В.
Алешкин В.Я., Дикарева Н.В., Дубинов А.А., Звонков Б.Н., Кудрявцев К.Е., Некоркин С.М.
Арапов Ю.Г., Гудина С.В., Клепикова А.С., Неверов В.Н., Шелушинина Н.Г., Якунин М.В.
Козлов Д.В., Морозов С.В., Румянцев В.В., Тузов И.В., Кудрявцев К.Е., Гавриленко В.И.
Криштопенко С.С., Маремьянин К.В., Калинин К.П., Спирин К.Е., Гавриленко В.И., Байдусь Н. В., Звонков Б.Н.
Электронные свойства полупроводников
Кульбачинский В.А., Овешников Л.Н., Лунин Р.А., Юзеева Н.А., Галиев Г.Б., Климов Е.А., Мальцев П.П.
Поверхность, границы раздела, тонкие пленки
Гуляев А.М., Шнитников А.С.
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Клочко Н.П., Клепикова Е.С., Хрипунов Г.С., Волкова Н.Д., Копач В.Р., Любов В.Н., Кириченко М.В., Копач А.В.
Гуляев Д.В., Журавлев К.С., Бакаров А.К., Торопов А.И.
Власенко А.И., Байдуллаева А., Велещук В.П., Мозоль П.Е., Бойко Н.И., Литвин О.С.
Галиев Г.Б., Васильевский И.С., Климов Е.А., Клочков А.Н., Лаврухин Д.В., Пушкарёв С.С., Мальцев П.П.
Санкин В.И., Андрианов А.В., Захарьин А.О., Петров А.Г.
Беляев К.Г., Усикова А.А., Жмерик В.Н., Копьев П.С., Иванов С.В., Торопов А.А., Брунков П.Н.
Физика полупроводниковых приборов
Wu Yi-Chen, Tsai Jung-Hui, Chiang Te-Kuang, Chiang Chung-Cheng, Wang Fu-Min
Векслер М.И., Илларионов Ю.Ю., Тягинов С.Э., Grasser T.
Саченко А.В., Шкребтий А.И., Коркишко Р.М., Костылев В.П., Кулиш Н.Р., Соколовский И.О.
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Бохан Ю.И., Каменков В.С., Толочко Н.К.
Мизеров А.М., Кладько П.Н., Никитина Е.В., Егоров А.Ю.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук