Влияние облучения электронами низких энергий на оптические свойства структур с множественными квантовыми ямами InGaN/GaN
Вергелес П.С.1, Якимов Е.Б.1,2
1Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук, Черноголовка, Россия
2Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Москва, Россия
Поступила в редакцию: 23 мая 2014 г.
Выставление онлайн: 20 января 2015 г.
Приведены результаты исследований температурной зависимости интенсивности катодолюминесценции в необлученных и облученных электронами с подпороговой энергией структур с множественными квантовыми ямами InGaN/GaN в интервале температур 80-300 K. Показано, что в результате облучения температурная зависимость становится более слабой. Анализ этих и полученных ранее результатов позволяет предположить, что облучение электронами приводит к релаксации напряжений в квантовых ямах, обусловленных несоответствием параметров решеток InGaN и GaN.
- O. Gfrorer, C. Gemmer, J. Off, J.S. Im, F. Scholz, A. Hangleiter. Phys. Status Solidi B, 216, 405 (1999)
- U. Jahn, S. Dhar, H. Kostial, I.M. Watson, K. Fujiwara. Inst. Phys. Conf. Ser., 180, 337 (2003)
- U. Jahn, S. Dhar, H. Kostial, I.M. Watson, K. Fujiwara. Phys. Status Solidi C, 0, 2223 (2003)
- N.M. Shmidt, P.S. Vergeles, E.E. Yakimov, E.B. Yakimov. Sol. St. Commun., 151, 208 (2011)
- N.M. Shmidt, P.S. Vergeles, E.E. Yakimov, E.B. Yakimov. Phys. Status Solidi C, 8, 1265 (2011)
- P.S. Vergeles, E.B. Yakimov. J. Physics: Conf. Ser., 281, 012 013 (2011)
- M. Thomsen, H. Jonen, U. Rossow, A. Hangleiter. J. Appl. Phys., 109, 123 710 (2011)
- П.С. Вергелес, Н.М. Шмидт, Е.Б. Якимов. Поверхность, N 10, 33 (2011)
- N.M. Lockrey, M.R. Phillips. J. Semicond., 32 (1), 012 001 (2011)
- П.С. Вергелес, Н.М. Шмидт, Е.Б. Якимов. Поверхность, N 11, 22 (2012)
- H. Nykanen, P. Mattila, S. Suihkonen, J. Riikonen, M. Sopanen. Phys. Status Solidi C, 9 (7), 1563 (2012)
- E.B. Yakimov. Internat. J. Nanoparticles, 6, 191 (2013)
- P.S. Vergeles, N.M. Shmidt, E.B. Yakimov. Phys. Status Solidi C, 10 (3), 464 (2013)
- Y. Kuznetsova, M. Zamoryanskaya. Jpn. J. Appl. Phys., 52, 08JJ06 (2013)
- E.B. Yakimov, P.S. Vergeles, A.Y. Polyakov, Han-Su Cho, Lee-Woon Jang, In-Hwan Lee. J. Vac. Sci. Technol. B, 32 (1), 011 207 (2014)
- A.M. Emara, E.A. Berkman, J. Zavada, N.A. El-Masry, S.M. Bedair. Phys. Status Solidi C, 8 (7--8), 2034 (2011)
- P.G. Eliseev, P. Perlin, J. Lee, M. Osinski. Appl. Phys. Lett., 71, 569 (1997)
- C. Netzel, C. Mauder, T. Wernicke, B. Reuters, H. Kalisch, M. Heuken, A. Vescan, M. Weyers, M. Kneissl. Semicond. Sci. Technol., 26, 105 017 (2011)
- J.H. Zhu, L.J. Wang, S.M. Zhang, H. Wang, D.G. Zhao, J.J. Zhu, Z.S. Liu, D.S. Jiang, Y.X. Qiu, H. Yang. J. Phys. D: Appl. Phys., 42, 235 104 (2009)
- Q. Wang, J. Bai, Y.P. Gong, T. Wang. J. Phys. D: Appl. Phys., 44, 395 102 (2011)
- E.Y. Xie, Z.Z. Chen, P.R. Edwards, Z. Gong, N.Y. Liu, Y.B. Tao, Y.F. Zhang, Y.J. Chen, I.M. Watson, E. Gu, R.W. Martin, G.Y. Zhang, M.D. Dawson. J. Appl. Phys., 112, 013 107 (2012)
- B. Monemar, G. Pozina. Progr. Quant. Electron., 24, 239 (2000)
- C.G. Van de Walle, J. Neugebauer. Appl. Phys. Lett., 70 (19), 2577 (1997)
- L. Dong, J.V. Mantese, V. Avrutin, U. Ozgur, H. Morkoc, S.P. Alpay. J. Appl. Phys., 114, 043 715 (2013)
- S. Tomiya, S. Goto, M. Takeya, M. Ikeda. Phys. Status Solidi A, 200 (1), 139 (2003)
- S. Tomiya, M. Takeya, S. Goto, M. Ikeda. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 831, E1.1 (2005)
- S.V. Koveshnikov, E.B. Yakimov, N.A. Yarykin, V.A. Yunkin. Phys. Status Solidi A, 111, 81 (1989)
- H. Amano, M. Kito, K. Hiramatsu, I. Akasaki. Jpn. J. Appl. Phys., 28, L2112 (1989)
- C.H. Seager, S.M. Myers, B. Vaandrager, J.S. Nelson. Appl. Phys. Lett., 80, 2693 (2002)
- H. Nykanen, S. Suihkonen, L. Kilanski, M. Sopanen, F. Tuomisto. Appl. Phys. Lett., 100, 122 105 (2012)
- B. Sieber. Springer Proc. Phys., 120, 459 (2008)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.