Температурная зависимость электролюминесценции p-i-n AlxGa1-xAs-гетероструктур с прямозонными и непрямозонными (In,Al)As-квантовыми точками
Российский научный фонд, 22-12-00022-П
Шамирзаев Т.С.
1, Дмитриев Д.В.
1, Гайслер В.А.
11Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия

Email: sha_tim@mail.ru
Поступила в редакцию: 28 июля 2026 г.
В окончательной редакции: 17 сентября 2026 г.
Принята к печати: 17 сентября 2026 г.
Выставление онлайн: 26 октября 2026 г.
Изучалась температурная зависимость протекания тока и электролюминесценции в p-i-n-гетероструктурах с прямозонными и непрямозонными (In,Al)As-квантовыми точками первого рода, встроенными в широкозонный нелегированный слой Al0.27Ga0.73As и AlAs соответственно. Обнаружено, что прямозонная структура демонстрирует электролюминесценцию из квантовых точек в диапазоне температур от 300 до 4 K, в то время как интенсивность электролюминесценции из квантовых точек в непрямозоной структуре монотонно уменьшается с падением температуры и полностью исчезает при T<100 K, замещаясь излучением из контактных слоев. Обсуждаются причины подавления электролюминесценции непрямозонных квантовых точек при низких температурах. Ключевые слова: электролюминесценция, p-i-n-гетероструктура, квантовые точки.
- H.J. Briegel, W. Dur, J.I. Cirac, P. Zoller. Phys. Rev. Lett., 51, 9532 (1998). DOI: 10.1103/PhysRevLett.81.5932
- N. Gisin, G. Ribordy, W. Tittel, H. Zbinden. Rev. Mod. Phys., 74, 145 (2002). DOI: 10.1103/RevModPhys.74.145
- D.S. Smirnov, T.S. Shamirzaev, D.R. Yakovlev, M. Bayer. Phys. Rev. Lett., 125, 156801 (2020). DOI: 10.1103/PhysRevLett.125.156801
- T.S. Shamirzaev, A.V. Shumilin, D.S. Smirnov, J. Rautert, D.R. Yakovlev, M. Bayer. Phys. Rev. B, 104, 115405 (2021). DOI: 10.1103/PhysRevB.104.115405
- A.V. Shumilin, T.S. Shamirzaev, D.S. Smirnov. Phys. Rev. Lett., 132, 076202 (2024). DOI: 10.1103/PhysRevLett.132.076202
- A. Nardelli, E. Deuschle, L.D. de Azevedo, J.L.N. Pessoa, E. Ghisi. Renewable and Sustainable Energy Rev., 236, 116980 (2026). DOI: 10.1016/j.rser.2026.116980
- P. Bai, Y. Zhang, T. Wang, Z. Shi, X. Bai, Ch. Zhou, Y. Xie, L. Du, M. Pu, Z. Fu, J. Cao, X. Guo, W. Shen. Semicond. Sci. Technol., 35, 035021 (2020). DOI: 10.1088/1361-6641/ab6dbf
- T.S. Shamirzaev, D.R. Yakovlev, M. Bayer. Appl. Phys. Lett., 127, 111602 (2025). DOI: 10.1063/5.0287191
- T.S. Shamirzaev, A.V. Nenashev, A.K. Gutakovskii, A.K. Kalagin, K.S. Zhuravlev, M. Larsson, P.O. Holtz. Phys. Rev. B, 78, 085323 (2008). DOI: 10.1103/PhysRevB.78.085323
- А.П. Леванюк, В.В. Осипов. УФН, 133, 427 (1981). DOI: 10.1070/PU1981v024n03ABEH004770
- С.-Т. Sah, R.N. Noyce, W. Shockley. Proc. IRE, 45, 1228 (1957). DOI: 10.1109/JRPROC.1957.278528
- J.A. Rohr, D. Moia, S.A. Haque, T. Kirchartz, J. Nelson. J. Phys.: Condens. Matter, 30, 105901 (2018). DOI: 10.1088/1361-648X/aaabad
- T.S. Shamirzaev, J. Debus, D.S. Abramkin, D. Dunker, D.R. Yakovlev, D.V. Dmitriev, A.K. Gutakovskii, L.S. Braginsky, K.S. Zhuravlev, M. Bayer. Phys. Rev. B, 84, 155318 (2011). DOI: 10.1103/PhysRevB.84.155318