Вышедшие номера
Сравнительный анализ излучательных характеристик Al-содержащих и безалюминиевых квантово-размерных гетероструктур спектрального диапазона 780-850 нм
Гультиков Н.В.1, Телегин К.Ю.1, Андреев А.Ю.1, Яроцкая И.В.1, Багаев Т.А.1, Субботин А.М.1, Киркин В.С.1, Мармалюк А.А.2, Ладугин М.А.3, Захаров В.Е.4, Яблонский А.Н.4, Румянцев В.В.4, Морозов С.В.4
1Научно-исследовательский институт " Полюс" им. М.Ф. Стельмаха, Москва, Россия
2Российский университет дружбы народов им. Патриса Лумумбы, Москва, Россия
3Московский физико-технический институт (Национальный исследовательский университет), Долгопрудный, Московск. обл., Россия
4Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: nikita.gultickov@yandex.ru
Поступила в редакцию: 21 мая 2026 г.
В окончательной редакции: 26 августа 2026 г.
Принята к печати: 16 сентября 2026 г.
Выставление онлайн: 26 октября 2026 г.

Проведено сравнение излучательных характеристик квантово-размерных гетероструктур диапазона 780-850 нм на основе Al-содержащей и безалюминиевой систем материалов. Результаты показывают значительное преимущество безалюминиевых гетероструктур по интенсивности фотолюминесценции (в 10-30 раз), несмотря на более широкий спектр фотолюминесценции. Также у безалюминиевых гетероструктур наблюдается существенно (больше чем в 2-5 раз) более длительное время жизни носителей заряда. Проанализированы возможные причины данных различий, а также их влияние на выходные характеристики полупроводниковых излучателей. Ключевые слова: квантовые ямы, Al-содержащая и безалюминиевая системы материалов, фотолюминесценция.
  1. S. Saeed, M. Usman, S. Ali, H. Ali, L. Mustafa. Optical Mater., 139, 113809 (2023). DOI: 10.1016/j.optmat.2023.113809
  2. E.A. Avrutin, B.S. Ryvkin, J.T. Kostamovaara. IET Optoelectronics, 15, 194 (2021). DOI: 10.1049/ote2.12033
  3. M. Krakowski, M. Lecomte, N. Michel, M. Calligaro, M. Carbonnelle, M. Tran, M. Lamponi, C. Cayron, V. Ligeret, J.B. Lobe, R. Mostallino, et al. Proc. SPIE, 9370, 93702C (2015). DOI: 10.1117/12.2084696
  4. Z. Xu, H. Dong, J.Z. Gang, Z.A. Qin, L. Jian, W.Z. Yong, X.B. She. Optics Lett., 47, 1153 (2022). DOI: 10.1364/OL.451551
  5. A. Knauer, H. Wenzel, G. Erbert, B. Sumpf, M. Weyers. J. Electron. Mater., 30, 1421 (2001). DOI: 10.1007/s11664-001-0195-8
  6. N. Chand, S.N.G. Chu, N.K. Dutta, J. Lopata, M. Geva, A.V. Syrbu, A.Z. Mereutza, V.P. Yakovlev. IEEE J. Quant. Electron., 30, 424 (1994). DOI: 10.1109/3.283790
  7. M. Levinshtein, S. Rumyantsev, M. Shur (eds). Handbook Series on Semiconductor Parameters. Vol. 2: Ternary and Quaternary III-V Compounds (World Scientific, Singapore-N. J., 1999)
  8. Н.В. Гультиков, К.Ю. Телегин, А.Ю. Андреев, Л.И. Шестак, В.А. Панарин, М.Ю. Старынин, А.А. Мармалюк, М.А. Ладугин. Квант. электрон., 53, 667 (2023)
  9. P.G. Eliseev. Progr. Quant. Electron., 20, 1 (1996). DOI: 10.1016/0079-6727(95)00002-X
  10. L. Fan, C. Cao, G. Thaler, D. Nonnemacher, F. Lapinski, I. Ai, B. Caliva, S. Das, R. Walker, L. Zeng, M. McElhinney, P. Thiagarajan. Proc. SPIE, 7918, 791805 (2011)
  11. М.А. Ладугин, А.Ю. Андреев, И.В. Яроцкая, Ю.Л. Рябоштан, Т.А. Багаев, А.А. Падалица, А.А. Мармалюк, М.Г. Васильев. Неорг. матер., 55, 345 (2019). DOI: 10.1134/S0002337X19040092
  12. M. Levy, Y. Berk, Y. Karni. Proc. SPIE, 6104, 61040B (2006). DOI: 10.1117/12.645815