"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Определение из данных спектроскопии комбинационного рассеяния света состава и деформаций в наноструктурах на основе GexSi1-x с учетом вклада гетерограницы
Володин В.А.1, Ефремов М.Д.1, Якимов А.И.1, Михалёв Г.Ю.1, Никифоров А.И.1, Двуреченский А.В.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 30 октября 2006 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2007 г.

Существенно уточнена методика определения состава и механических деформаций в квантовых точках GexSi1-x с применением метода спектроскопии комбинационного рассеяния света. Параметр состава x определяется из анализа интенсивности пиков комбинационного рассеяния света на колебаниях связей Ge-Ge и Ge-Si, с учетом наличия связей Ge-Si на гетерогранице. Механические напряжения в квантовых точках определяются из анализа положения пиков комбинационного рассеяния света, с учетом полученных данных о составе квантовых точек. PACS: 63.22.+m, 78.30.-j, 78.67.Hc
  • А.И. Якимов, А.В. Двуреченский, В.В. Кириенко, Н.П. Степина, А.И. Никифоров, С.В. Чайковский, В.А. Володин, М.Д. Ефремов, М.С. Сексенбаев, Т.С. Шамирзаев, К.С. Журавлев. ФТП, 38, 1265 (2004)
  • J.-M. Baribeau, X. Wu, N.L. Rowell, D.J. Lockwood. J. Phys.: Condens. Matter, 18, R139 (2006)
  • О.П. Пчеляков, Ю.Б. Болховитянов, А.В. Двуреченский. ФТП, 34, 1281 (2000)
  • Light Scattering in Solids. V Superlattices and Other Microstructures, ed. by M. Cardona, G. Gunterodt (Berlin, Springer Verlag, 1989) p. 351
  • H.K. Shin, D.J. Lockwood, J.-M. Baribeau. Sol. St. Commun., 114, 505 (2000)
  • P.H. Tan, K. Brunner, D. Bougeard, G. Abstreiter. Phys. Rev. B, 68, 125302-(1-6) (2003)
  • A.G. Milekhin, A.I. Nikiforov, M.Yu. Ladanov, O.P. Pchelyakov, D.N. Lobanov, A.V. Novikov, Z.F. Krasil'nik, S. Schulze, D.R.T. Zahn. Physica E, 21, 464 (2004)
  • D.W. Feldman, M. Ashkin, James H. Parker, Jr. Phys. Rev. Lett., 17, 1209 (1966)
  • P.M. Mooney, F. Dacol, J.C. Tsang, J.O. Chu. Appl. Phys. Lett., 62, 2069 (1993)
  • J.C. Tsang, P.M. Mooney, F. Dacol, J.O. Chu. J. Appl. Phys., 75, 8098 (1994)
  • В.А. Володин, М.Д. Ефремов, А.С. Дерябин, Л.В. Соколов. ФТП, 40, 1349 (2006)
  • A.I. Yakimov, A.I. Nikiforov, A.V. Dvurechenskii, V.V. Ulyanov, V.A. Volodin, R. Groetzschel. Nanotechnology, 17, 4743 (2006)
  • A.V. Kolobov. J. Appl. Phys., 87, 2926 (2000)
  • В.А. Володин, М.Д. Ефремов, А.И. Никифоров, Д.А. Орехов, О.П. Пчеляков, В.В. Ульянов. ФТП, 37, 1220 (2003)
  • Д.А. Орехов, В.А. Володин, М.Д. Ефремов, А.И. Никифоров, В.В. Ульянов, О.П. Пчеляков. Письма ЖЭТФ, 81, 415 (2005)
  • Z. Sui, H.H. Burke, I.P. Herman. Phys. Rev. B, 48, 2162 (1993)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.