Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Инфракрасное фотоотражение эпитаксиальных пленок Cd0.3Hg0.7Te
1Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия 
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
4Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
4Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Email: max.ruzhevich@niuitmo.ru, karim.mynbaev@niuitmo.ru, d.d.firsov@gmail.com
Поступила в редакцию: 2 мая 2024 г.
В окончательной редакции: 5 сентября 2024 г.
Принята к печати: 30 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 23 декабря 2024 г.
Представлены результаты исследования фотоотражения пленок Cd0.3Hg0.7Te, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Проведено сопоставление результатов измерения фотоотражения с данными исследования фотолюминесценции и оптического пропускания пленок после роста и после различных видов отжига. Для пленок после отжига обнаружено улучшение качества, выражающееся в уменьшении полуширины пика фотоотражения. Ключевые слова: твердые растворы, CdHgTe, фотоотражение.
- M. Kopytko, A. Rogalski. Sensors Actuators: A-Phys., 339, 113511 (2022). DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2022.113511
- J. Shao, L. Chen, W. Lu, X. Lu, L. Zhu, S. Guo, L. He, J. Chu. Appl. Phys. Lett., 96 (12), 121915 (2010). DOI: https://doi.org/10.1063/1.3373595
- M. Motyka, G. Sek, F. Janiak, J. Misiewicz, K. K os, J. Piotrowsk. Meas. Sci. Technol., 22 (12), 125601 (2011). DOI: 10.1088/0957-0233/22/12/125601
- О.С. Комков, М.В. Якушев. ФТП, 57 (6), 426 (2023). DOI: 10.61011/FTP.2023.06.56469.33k
- В.А. Швец, Д.В. Марин, В.Г. Ремесник, И.А. Азаров, М.В. Якушев, С.В. Рыхлицкий. Опт. и спектр., 128 (12), 1815 (2019). DOI: 10.21883/OS.2020.12.50315.349-20
- C.R. Becker, V. Latussek, A. Pfeuffer-Jeschke, G. Landwehr, L.W. Molenkamp. Phys. Rev. B, 62 (15), 10353 (2000). DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.62.10353
- М.С. Ружевич, Д.Д. Фирсов, О.С. Комков, К.Д. Мынбаев, В.С. Варавин, М.В. Якушев. ФТП, 57 (6), 491 (2023). DOI: 10.61011/FTP.2023.06.56479.5375
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
