Предлагается метод математической обработки сильно зашумленных электронно-микроскопических фотографий нанокомпозитов. Метод заключается в спайновой фильтрации изображения на основе средних значений интенсивности фона. Метод применен для обработки электронно-микроскопических фотографий аморфного углерода, легированного медью. С его помощью удалось получить функцию распределения по размерам медных кластеров, хорошо согласующуюся с ранее полученными результатами. Кроме того, определена зависимость межкластерного расстояния от размеров кластеров. Было показано, что форма этой зависимости подтверждает гипотезу о флуктуационном зарождении кластеров при меньших концентрациях металла и коалесценции при больших концентрациях.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.