Приведены новые результаты экспериментального исследования диодных стабилизаторов тока, которые не могут быть объяснены ранее предлагавшимися механизмами. Из сопоставления этих результатов с данными исследований инжекционных эффектов в неоднородно разогретых полупроводниках следует, что в стабилизации тока основную роль играют неоднородный разогрев диода и возникающая из-за этого экстракция носителей заряда из части объема полупроводника.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.