| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Резонансное детектирование терагерцового излучения в субмикронных полевых транзисторах GaAs/AlGaAs
с двумерным электронным газом
А.В.Антонов, В.И.Гавриленко, К.В.Маремьянин, С.В.Морозов, F.Teppe, W.Knap
Институт физики микроструктур Российской академии наук,
603950 Нижний Новгород, Россия
Groupe d'Etude de Semiconducteurs, CNRSUniversite Montpellier 2,
34095 Montpellier, France
(Получена 7 августа 2008 г. Принята к печати 2 сентября 2008 г.)
|
Исследовано резонансное детектирование терагерцового излучения субмикронными полевыми транзисторами GaAs/AlGaAs (длина затвора нм) с двумерным электронным газом в канале при K. Для таких транзисторов впервые продемонстрировано смещение максимума отклика (фотоэдс стокисток) с ростом частоты в область больших напряжений на затворе в соответствии с моделью ДьяконоваШура. Показано, что при повышении температуры до 77 K зависимость фотоэдс от напряжения на затворе становится нерезонансной, что связано с уменьшением подвижности. PACS: 85.30.Tv, 85.35.Be, 72.30.+q, 73.40.Kp, 73.63.Hs |
| PDF версия (185Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2009, Коллектив авторов Разработано... webmaster |