"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Поляризационные характеристики поверхноcтного плазмонного резонанса в нанокластерных пленках SnO2
Гриневич В.С.1, Максименко Л.С.2, Матяш И.Е.2, Мищук О.Н.2, Руденко С.П.2, Сердега Б.К.2, Смынтына В.А.1, Филевская Л.Н.1
1Одесский национальный университет им. И.И. Мечникова, Одесса, Украина
2Институт физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 11 апреля 2011 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2011 г.

Методом поляризационной модуляции электромагнитного излучения исследованы особенности внутреннего отражения, обусловленные поверхностным плазмонным резонансом в наноразмерных пленках, содержащих кластеры дефектного диоксида олова в диэлектрической матрице стехиометрического состава. В диапазоне длин волн lambda=400-1600 нм измерены угловые и спектральные характеристики коэффициентов отражения R2s и R2p излучения s- и p-поляризации и их поляризационной разности rho=R2s-R2p. Полученные экспериментальные характеристики rho(theta,lambda) (theta --- угол падения излучения) отражают особенности оптических свойств, связанные со структурой и морфологией пленок. Обнаружены поверхностные плазмон-поляритоны, а также локальные плазмоны, возбуждаемые s- и p-поляризованным излучением, определены их частотные и релаксационные свойства. Установлена структурная чувствительность методики исследования поверхностного плазмонного резонанса для пленок диоксида олова.
  • M. Batzill, U. Diebold. Progr. Surf. Sci., 79, 47 (2005)
  • Поверхностные поляритоны. Электромагнитные волны на поверхностях и границах раздела сред, под ред. В.М. Аграновича и Д.Л. Миллса (М., Наука, 1985)
  • Н.Л. Дмитрук, В.Г. Литовченко, В.Л. Стрижевский. Поверхностные поляритоны в полупроводниках и диэлектриках (Киев, Наук. думка, 1989)
  • A.Z. Otto. Z. Physik, 216, 398 (1968)
  • E.Z. Kretschman. Z. Physik, 241, 313 (1971)
  • Л.И. Бережинский, Л.С. Максименко, И.Е. Матяш, С.П. Руденко, Б.К. Сердега. Опт. и спектр., 105 (2), 281 (2008)
  • S.N. Jasperson, S.E. Schnatterly. Rev. Sci. Instr., 40 (6), 761 (1969)
  • Л.И. Бережинский, О.С. Литвин, Л.С. Максименко, И.Е. Матяш, С.П. Руденко, Б.К. Сердега. Опт. и спектр., 107 (2), 281 (2009)
  • M. Born, E. Wolf. Principles of Optics (Cambridge, Cambridge University Press, 1999)
  • Е.А. Виноградов, Е.А. Лескова, А.П. Рябов. Опт. и спектр., 76 (2), 311 (1994)
  • Sarika Singh, B.D. Gupta. Meas. Sci. Technol., 21, 115 202 (2010)
  • L.N. Filevskaya, V.A. Smyntyna, V.S. Grinevich. Photoelectronics (Odessa), 15, 11 (2006)
  • B. Ulug, H.M. Turkdemir, A. Ulug, O. Buyukgungor, M.B. Yucel, V.S. Grinevich, L.N. Filevskaya, V.A. Smyntyna. Ukr. Chem. J., 7, 12 (2010)
  • M. Anastasescu, M. Gartner, S. Mihaiu, C. Anastasescu, M. Purica, E. Manea, M. Zaharescu. IEEE Intern. Semicond. Conf. (2006) v. 1, p. 163
  • А.Б. Евлюхин. Письма ЖТФ, 31 (19), 14 (2005)
  • А.С. Шалин, С.Г. Мойсеев. Опт. и спектр., 106 (6), 1004 (2009)
  • B.K. Serdega, I.E. Matyash, L.S. Maximenko, S.P. Rudenko, V.A. Smyntyna, V.S. Grinevich, L.N. Filevskaya, B. Ulug, A. Ulug, B.M. Yucel. ФТП, 45 (3), 326 (2011)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.