Физика и техника полупроводников

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Оценка надежности полупроводникового излучателя ИЛПН-134

Журавлева О.В.¹, Иванов А.В.¹, Курносов В.Д.¹, Курносов К.В.¹, Романцевич В.И.¹, Чернов Р.В.¹

¹"НИИ "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха", Москва, Россия “Polyus” Research Institute of M.F. Stelmakh Joint Stock Company, Moscow, Russia

Поступила в редакцию: 29 апреля 2009 г.

Выставление онлайн: 17 февраля 2010 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Исследована надежность излучателя ИЛПН-134. Предложена методика, позволяющая оценить, какой вклад в общий процесс деградации излучателя ИЛПН-134 вносят по отдельности процессы старения лазерного диода и оптической системы. Определены значения энергии активации деградационных процессов, стандартные отклонения и скорости отказов лазерного диода и оптической системы.

S.L. Yellen, A.H. Shepard, R.J. Dalby, et. al. IEEE J. Quant. Electron., 29, 2058 (1993)
O. Fujita, Y. Nakano, G. Iwane. IEEE J. Lightwave Technol., 3, 1211 (1985)
N. Chand, J.W. Osenbach, T.L. Evanosky, R.B. Comizzoli, W.T. Tsnag. IEEE. J. Quant. Electron., 32, 1606 (1996)
J.W. Osenbach, T.L. Evanosky, N. Chand, R.B. Comizzoli, H.W. Krautter. IEEE J. Lightwave Technol., 15, 861 (1997)
H.-P. Shiao, C.-Y. Wang, T.-T. Shih, Y.-K. Tu. IEEE Phot. Technol. Lett., 10, 1238 (1998)
Y.A. Akulova, G.A. Fish, P.-C. Koh, C.L. Schow, P. Kozodoy, A. Dahl, S. Nakagawa, M. Larson, M. Mack, T. Strand, C. Coldren, E. Hegblom, S. Penniman, T. Wipiejewski, L.A. Coldren. IEEE J. Select. Topics Quant. Electron., 8, 1349 (2002)
П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Квант. электрон., 10, 2118 (1983)
H.-J. Yoon, N.-J. Chung, M.-H. Choi, In-S. Park, J. Jeong. IEEE J. Lightwave Technol., 17, 1067 (1999)
M. Fukuda. Reliability and Degradation of Semiconductor Lasers and LEDs (Artech House Boston, London, 1991)
O. Ueda. Reliability and Degradation of III--V Optical Devices (Artech House Boston, London, 1996)
П.Г. Елисеев. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 3 (1989)
П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 53 (1989)
П.Г. Елисеев, А.А. Кочетков. Итоги науки и техники. Сер. Электроника, 23, 95 (1989)
O.A. Lavrova, D.J. Blumanthal. IEEE J. Lightwave Technol., 18, 2196 (2000)
W.H. Cheng, M.T. Sheen, G.L. Wang, et. al. IEEE J. Lightwave Technol., 19, 1177 (2001)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель