Модификация поверхности CdS при нанесении и отжиге структурированного металлом органического покрытия
Российский научный фонд, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований малыми отдельными научными группами, 22-22-00194
Стецюра С.В.
1, Харитонова П.Г.
1, Козловский А.В.
21Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
2Сaнкт-Петербургский политехнических университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: stetsyurasv@mail.ru, haritonovapg@gmail.com, kozlowsky@bk.ru
Поступила в редакцию: 5 мая 2025 г.
В окончательной редакции: 18 июня 2025 г.
Принята к печати: 22 июня 2025 г.
Выставление онлайн: 31 августа 2025 г.
Для изучения модификации поверхности пластины сульфида кадмия при нанесении и отжиге покрытия из арахината железа были проведены исследования методом атомно-силовой микроскопии в режиме амплитудной модуляции сигнала с получением изображений как рельефа поверхности, так и распределений сигналов рассогласования цепи обратной связи и фазового контраста. Показано, что совместное применение колебательных методик атомно-силовой микроскопии позволило охарактеризовать все этапы создания разбавленного полумагнитного полупроводникового материала СdS : Fe, и выявить новые особенности исследуемых поверхностей путем анализа статистических параметров, полученных со сканов атомно-силовой микроскопии. Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, сульфид кадмия, арахинат железа, модификация поверхности.
- П.В. Бадикова, Д.В. Завьялов, Е.С. Сивашова. ЖТФ, 95 (3), 458 (2025). DOI: 10.61011/JTF.2025.03.59850.310-24
- Т.А. Писаренко, Д.А. Цуканов, В.В. Балашев, А.А. Яковлев. ЖТФ, 95 (4), 779 (2025). DOI: 10.61011/JTF.2025.04.60013.138-24
- А.Г. Роках, Д.И. Биленко, М.И. Шишкин, А.А. Скапцов, С.Б. Вениг, М.Д. Матасов. ФТП, 48 (12), 1602 (2014). http://journals.ioffe.ru/articles/41150
- Н.К. Морозова, И.И. Аббасов. ФТП, 56 (5), 486 (2022). DOI: 10.21883/FTP.2022.05.52350.9793
- В.М. Салманов, А.Г. Гусейнов, М.А. Джафаров, Р.M. Maмeдов, Т.А. Мамедова. Опт. и спектр., 130 (10), 1567 (2022). DOI: 10.21883/OS.2022.10.53627.2983-22
- С.В. Стецюра, П.Г. Харитонова, И.В. Маляр. Прикл. физика, 5, 66 (2020). http://applphys.orion-ir.ru/appl-20/20-5/PF-20-5-66.pdf
- С.В. Стецюра, П.Г. Харитонова, А.В. Козловский. Изв. Саратов. ун-та. Новая серия. Сер.: Физика, 25 (1), 93 (2025). DOI: 10.18500/1817-3020-2025-25-1-93-105
- T. Tohidi, N. Yousefpour Novini, K. Jamshidi-Ghaleh. Optical Mater., 151, 115394 (2024). DOI: 10.1016/j.optmat.2024.115394
- B. Lohitha, S. Thanikaikarasan, S. Roji Marjorie. Materials Today: Proceedings, 33 (7), 3068 (2020). DOI: 10.1016/j.matpr.2020.03.513
- K. Kaur, G.S. Lotey, N.K. Verma. J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 25, 2605 (2014). DOI: 10.1007/s10854-014-1918-y
- S.V. Stetsyura, P.G. Kharitonova, E.G. Glukhovskoy. St. Petersburg State Polytechnical University J. Phys. and Math., 15 (3.3), 250 (2022). DOI: 10.18721/JPM.153.349
- П.Г. Харитонова, Е.Г. Глуховской, А.В. Козловский, С.В. Стецюра. ФТП, 57 (7), 518 (2023). DOI: 10.61011/FTP.2023.07.56780.4912C
- S.V. Stetsyura, P.G. Kharitonova. St. Petersburg State Polytechnical University J. Phys. and Math., 16 (1.2), 236 (2023). DOI: 10.18721/JPM.161.236
- Т.Н. Щуковская, А.Ю. Гончарова, С.А. Бугоркова, П.С. Ерохин, О.М. Кудрявцева. Журн. микробиологии, эпидемиологии и иммунобиологии, 98 (3), 298 (2021). DOI: 10.36233/0372-9311-93
- B. Basnar, G. Friedbacher, H. Brunner, T. Vallant, U. Mayer, H. Hoffmann. Appl. Surf. Sci., 171, 213 (2001). DOI: 10.1016/S0169-4332(00)00761-3
- Н.А. Давлеткильдеев, А.В. Козинская, В.Ф. Азаров, А.В. Глотов. Вестн. Омского ун-та, 4 (62), 114 (2011). https://herald-journal.omsu.ru/issues/134/6417.php
- U. Maver, T. Velnar, M. Gaberscek, O. Planinsek, M Finsgar. TrAC Trends in Anal. Chem., 80, 96 (2016). DOI: 10.1016/j.trac.2016.03.014
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.