О механизмах токопереноса в диодных структурах Cr--n-InP и Mo--n-InP
Слободчиков С.В.1, Салихов Х.М.1, Саморуков Б.Е.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 3 февраля 2003 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2003 г.
Проведены исследования электрических характеристик диодных структур Cr-n-InP и Mo-n-InP и сделана оценка механизма токопрохождения. Установлено, что в структурах Cr-n-InP преобладает либо термоэлектронный, либо генерационно-рекомбинационный ток в зависимости от температуры. В структурах Mo-n-InP - двойная инжекция носителей заряда при дрейфовом переносе.
- E. Hokelek, G.J. Robinson. J. Appl. Phys., 54 (9), 5199 (1983)
- T. Kendelewicz, N. Newman, R.S. List, I. Lindau, W.E. Spicer. J. Vac. Sci. Technol. B, 3 (4), 1206 (1985)
- Э.Х. Родерик. Контакты металл--полупроводник (М., Радио и связь, 1982) с. 122
- Ming-Long Tsai, A.L. Fahrenbruch, R.H. Bube. J. Appl. Phys., 51 (5), 2696 (1980)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.