Вышедшие номера
Исследования физических явлений в полупроводниковых наноструктурах с использованием планарно-неоднородных слоев 1. Фотолюминесценция
Хабаров Ю.В.1
1Институт радиотехники и электроники Российской академии наук, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 29 августа 2002 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2003 г.

Предложен и экспериментально продемонстрирован новый спектрально-корреляционный метод исследования полупроводниковых структур, предполагающий использование планарно-неоднородных слоев. Посредством фотолюминесцентной спектроскопии при 77 K исследован образец, выращенный методом молекулярно-лучевой эпитаксии и содержащий AlxGa1-xAs-GaAs и GaAs-InyGa1-yAs квантовые ямы и модуляционно-легированный AlxGa1-xAs-GaAs гетеропереход. Полученные зависимости спектров фотолюминесценции от параметров неоднородности позволили характеризовать процессы перераспределения носителей в структуре и обнаружить ряд особенностей фотолюминесценции узких GaAs-квантовых ям. Экспериментальные значения энергии оптических переходов согласуются с теоретическими оценками во всем диапазоне вариации параметров, определяемом неоднородностью, и могут служить основой для оценки параметров полупроводниковой структуры. Исследование показало высокую информативность примененного подхода благодаря возможности прецизионной вариации технологически формируемых параметров структуры в пределах одного образца.
  1. Ю.В. Хабаров. Патент РФ N 2168238 (2001)
  2. M.A. Herman, D. Bingerg, J. Christen. J. Appl. Phys., 70 (2), R1 (1991)
  3. J. Wagner, A. Fischer, K. Ploog. Phys. Rev. B, 42, 7280 (1990)
  4. L. Pavesi, M. Guzzi. J. Appl. Phys., 75 (10), 4779 (1994)
  5. С.В. Евстигнеев, Р.М. Имамов, А.А. Ломов, Ю.Г. Садофьев, Ю.В. Хабаров, М.А. Чуев, Д.С. Шипицин. ФТП, 34, 719 (2000)
  6. G. Bastard, C. Delalande, Y. Guldner, P. Voison. In: Advances in Electronics and Electron Physics, ed. by P.W. Hawkes (Academic Press, 1988) v. 72

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.