"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Методика исследования световой деградации тандемных фотопреобразователей alpha-Si : H/mu c-Si : H при повышенной освещенности
Честа О.И.1, Аблаев Г.М.2,3, Блатов А.А.4, Бобыль А.В.1, Емельянов В.М.1, Орехов Д.Л.2, Теруков Е.И.1,2, Тимошина Н.Х.1, Шварц М.З.1,2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2ООО "НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике при Физико-техническом институте им. А.Ф. Иоффе", Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский aкадемический университет --- научно-образовательный центр нанотехнологий Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
4Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Москва, Россия
Поступила в редакцию: 18 января 2013 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.

Представлены описание созданной экспериментальной установки и методика ее использования для проведения ускоренных испытаний тонкопленочных фотопреобразователей alpha-Si : H/mu c-Si : H размером до 100x100 мм на световую деградацию при повышенной освещенности (до 10 кВт/м2). Проведено сравнение результатов оценки уровня фотоиндуцированной деградации фотопреобразователей по стандартной и разработанной методике и показано, что методика исследования фотоиндуцированной деградации при повышенной освещенности позволяет в 100 раз сократить время проведения испытаний, обеспечивая полностью адекватную оценку стабильности фотопреобразователей на основе аморфного и микрокристаллического кремния.
  1. С.R. Wronsky. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 469, 7 (1997)
  2. D.L. Staebler, C.R. Wronski. Appl. Phys. Lett., 31, 292 (1977)
  3. A. Kolodziej, C.R. Wronski, P. Krewniak, S. Nowak. Opto-Electronics Rev., 12, 21 (2004)
  4. X. Deng, M. Izu, K.L. Narasimhan, S.R. Ovshinsky. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 336, 699 (1994)
  5. A. Luque, S. Hegedus. Handbook of photovoltaic science and engineering (John Wiley and Sons, 2003) p. 551
  6. W. Luft, B. van Roedem, B. Stafford, L. Mrig. Proc. 23rd IEEE PVSC (Louisville, KY, 1993) p. 860
  7. T. Tonon, X. Li, A.E. Delahoy. AIP Conf. Proc., 234, 259 (1991)
  8. IEC 61646. Thin-film Terrestrial Photovoltaic (PV) Modules-Design, Qualification and Type Approval. 2nd edn (2008)
  9. M. Stutzmann, W.B. Jackson, C.C. Tsai. Phys. Rev. B, 32, 23 (1985)
  10. IEC 60904-9 Photovoltaic devices. Pt 9: Solar simulator performance requirements, 2nd edn (2007)
  11. Werner Luft, Bolko von Roedern. Proc. of 1st WCPEC (Waikoloa, Hawai, 1994) p. 457
  12. IEC 60904-10 Photovoltaic devices. Pt 10: Methods of linearity measurement. 2nd edn (2009)
  13. В.М. Емельянов и др. ФТП, 45, 667 (2013)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.