"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Термоэлектрические эффекты в наноразмерных слоях силицида марганца
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Инициативные научные проекты, 15-02-07824
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Инициативные научные проекты, 16-07-01102
Министерство образования и науки Российской Федерации, Проектная часть государственного задания, 8.1751.2017/ПЧ
Совет по грантам Президента Российской Федерации для государственной поддержки молодых российских ученых и по государственной поддержке ведущих научных школ Российской Федерации, грант Президента РФ для молодых кандидатов наук, МК-8221.2016.2
Министерство образования и науки Российской Федерации, Базовая часть государственного задания, 16.7443.2017/БЧ
Ерофеева И.В.1, Дорохин М.В. 1, Лесников В.П.1, Кузнецов Ю.М.1, Здоровейщев А.В.1, Питиримова Е.А.1
1Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: irfeya@mail.ru
Поступила в редакцию: 27 апреля 2017 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2017 г.

Экспериментально получены значения величин термоэдс, слоевого сопротивления и коэффициента теплопроводности наноразмерного слоя MnxSi1-x и сверхрешетки MnxSi1-x/Si на кремнии в зависимости от температуры в диапазоне T=300-600 K. Обсуждается роль наноразмерной пленки и подложки в формировании термоэлектрического эффекта. Оценена величина термоэлектрической добротности одиночного слоя силицида марганца, сверхрешетки и системы слой/подложка. Наибольшее значение добротности ZT=0.59±0.06 получено для Mn0.2Si0.8 при T=600 K. DOI: 10.21883/FTP.2017.11.45090.04
  1. A.J. Minnich, M.S. Dresselhaus, Z.F. Ren, G. Chen. Energy \& Environ. Sci., 2 (5), 466 (2009)
  2. L.D. Ivanova, A.A. Baikov. J. Thermoelectricity, 3, 60 (2009)
  3. Е.С. Демидов, Е.Д. Павлова, А.И. Бобров. Письма ЖЭТФ, 96 (11), 790 (2012)
  4. Е.С. Демидов, В.В. Подольский, В.П. Лесников, Е.Д. Павлова, А.И. Бобров, В.В. Карзанов, Н.В. Малехонова, А.А. Тронова. Письма ЖЭТФ, 100 (11), 818 (2014)
  5. C. Gayner, K.K. Kar. Prog. Mater. Sci., 83, 330 (2016)
  6. И.В. Ерофеева, М.В. Дорохин, В.П. Лесников, А.В. Здоровейщев, А.В. Кудрин, Д.А. Павлов, Ю.В. Усов. ФТП, 50 (11), 1473 (2016)
  7. А.Т. Бурков, А.И. Федотов, А.А. Касьянов, Р.И. Пантелеев, Т. Накама. Науч.-техн. вестн. инф. технологий, механики и оптики, 15 (2), 173 (2015)
  8. D.G. Cahill, H.E. Fischer, T. Klitsner, E.T. Swartz, R.O. Pohl. J. Vac. Sci. Tech. A, 7 (3), 1259 (1989).
  9. K. Maize, Y. Ezzahri, X. Wang, S. Singer, A. Majumdar, A. Shakouri. 24 th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (16--20 March; San Jose, Ca, USA), 185 (2008)
  10. D.G. Cahill. Rev. Sci. Instrum, 61 (12), 802 (1990)
  11. S.-M. Lee, D.G. Cahill. J. Appl. Phys., 81 (6), 2590 (1997)
  12. T. Borca-Tasciuc, D.W. Song, J.R. Meyer, I. Vurgaftman, M.-J. Yang, B.Z. Nosho, L.J. Whitman, H. Lee, R.U. Martinelli, G.W. Turner, M.J. Manfra, G. Chen. J. Appl. Phys., 92 (9), 4994 (2002)
  13. C.-K. Liu, C.-K. Yu, H.-C. Chien, S.-L. Kuo, C.-Y. Hsu, M.-J. Dai, G.-L. Luo, S.-C. Huang, M.-J. Huan. J. Appl. Phys., 104 (11), 114301 (2008)
  14. CRC Handbook of Thermoelectrics, ed. by D.M. Rowe (N.Y., CRC Press., 1995)
  15. M.I. Fedorov. J. Thermoelectricity, 2, 51 (2009).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.