Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Термоэлектрические эффекты в наноразмерных слоях силицида марганца
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Инициативные научные проекты, 15-02-07824
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Инициативные научные проекты, 16-07-01102
Министерство образования и науки Российской Федерации, Проектная часть государственного задания, 8.1751.2017/ПЧ
Совет по грантам Президента Российской Федерации для государственной поддержки молодых российских ученых и по государственной поддержке ведущих научных школ Российской Федерации, грант Президента РФ для молодых кандидатов наук, МК-8221.2016.2
Министерство образования и науки Российской Федерации, Базовая часть государственного задания, 16.7443.2017/БЧ
1Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия 
Email: irfeya@mail.ru
Поступила в редакцию: 27 апреля 2017 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2017 г.
Экспериментально получены значения величин термоэдс, слоевого сопротивления и коэффициента теплопроводности наноразмерного слоя MnxSi1-x и сверхрешетки MnxSi1-x/Si на кремнии в зависимости от температуры в диапазоне T=300-600 K. Обсуждается роль наноразмерной пленки и подложки в формировании термоэлектрического эффекта. Оценена величина термоэлектрической добротности одиночного слоя силицида марганца, сверхрешетки и системы слой/подложка. Наибольшее значение добротности ZT=0.59±0.06 получено для Mn0.2Si0.8 при T=600 K. DOI: 10.21883/FTP.2017.11.45090.04
- A.J. Minnich, M.S. Dresselhaus, Z.F. Ren, G. Chen. Energy \& Environ. Sci., 2 (5), 466 (2009)
- L.D. Ivanova, A.A. Baikov. J. Thermoelectricity, 3, 60 (2009)
- Е.С. Демидов, Е.Д. Павлова, А.И. Бобров. Письма ЖЭТФ, 96 (11), 790 (2012)
- Е.С. Демидов, В.В. Подольский, В.П. Лесников, Е.Д. Павлова, А.И. Бобров, В.В. Карзанов, Н.В. Малехонова, А.А. Тронова. Письма ЖЭТФ, 100 (11), 818 (2014)
- C. Gayner, K.K. Kar. Prog. Mater. Sci., 83, 330 (2016)
- И.В. Ерофеева, М.В. Дорохин, В.П. Лесников, А.В. Здоровейщев, А.В. Кудрин, Д.А. Павлов, Ю.В. Усов. ФТП, 50 (11), 1473 (2016)
- А.Т. Бурков, А.И. Федотов, А.А. Касьянов, Р.И. Пантелеев, Т. Накама. Науч.-техн. вестн. инф. технологий, механики и оптики, 15 (2), 173 (2015)
- D.G. Cahill, H.E. Fischer, T. Klitsner, E.T. Swartz, R.O. Pohl. J. Vac. Sci. Tech. A, 7 (3), 1259 (1989).
- K. Maize, Y. Ezzahri, X. Wang, S. Singer, A. Majumdar, A. Shakouri. 24 th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (16--20 March; San Jose, Ca, USA), 185 (2008)
- D.G. Cahill. Rev. Sci. Instrum, 61 (12), 802 (1990)
- S.-M. Lee, D.G. Cahill. J. Appl. Phys., 81 (6), 2590 (1997)
- T. Borca-Tasciuc, D.W. Song, J.R. Meyer, I. Vurgaftman, M.-J. Yang, B.Z. Nosho, L.J. Whitman, H. Lee, R.U. Martinelli, G.W. Turner, M.J. Manfra, G. Chen. J. Appl. Phys., 92 (9), 4994 (2002)
- C.-K. Liu, C.-K. Yu, H.-C. Chien, S.-L. Kuo, C.-Y. Hsu, M.-J. Dai, G.-L. Luo, S.-C. Huang, M.-J. Huan. J. Appl. Phys., 104 (11), 114301 (2008)
- CRC Handbook of Thermoelectrics, ed. by D.M. Rowe (N.Y., CRC Press., 1995)
- M.I. Fedorov. J. Thermoelectricity, 2, 51 (2009).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
