"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Квазилинейный фоторефрактивный эффект в кремнии
Филатов А.Л.1
1Институт радиотехники и электроники Российской академии наук, Фрязино, Россия
Поступила в редакцию: 11 мая 2000 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2000 г.

Исследованы нелинейности фоторефрактивного эффекта, возникающие при увеличении интенсивности излучения накачки. Проанализированы явления, связанные с рекомбинацией Оже и с изменением величины амбиполярной диффузии. Рассмотрены возможности применения исследований квазилинейного фоторефрактивного эффекта для определения транспортных параметров полупроводников.
  1. A.L. Filatov, V.I. Mirgorodsky, V.A. Sablicov. Semicond. Sci. Technol., 8, 694 (1993)
  2. A.L. Filatov, V.I. Mirgorodsky, V.A. Sablicov. Engineering Optics, 321 (1993)
  3. А.Л. Филатов. ЖТФ, 9, 115 (1998)
  4. A. Skumanich, D. Fournier, A.C. Boccara, N.M. Amer. Appl. Phys. Lett., 47, 402 (1985)
  5. D. Fournier, A.C. Boccara, A. Skumanich, N.M. Amer. J. Appl. Phys., 59, 787 (1986)
  6. H. Dersch, N. Amer. Appl. Phys. Lett., 47 (3), 292 (1985)
  7. N.M. Amer. J. de Phys., 44, C6-185 (1983)
  8. H.J. Eichler, F. Massmann, E. Biselli, K. Richter, M. Glotz, L. Konetzke, X. Yang. Phys. Rev. B, 36 (3), 3247 (1987)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.