Вышедшие номера
Полевой транзистор на основе 6 H-SiC: температурная зависимость проводимости n-канала
Иванов П.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 30 декабря 1993 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1994 г.

Исследована температурная зависимость проводимости эпитаксиального n-канала в полевом транзисторе на основе 6H-SiC с p-n-затвором в направлении, перпендикулярном гексагональной оси C кристалла, в интервале температур 160/680 K. Канал транзистора легирован азотом до концентрации (Nd-Na)=4.0·1017 см-3, степень компенсации ~ 0.1. Удельная электропроводность sigma канала равномерно распределена по толщине его проводящей части. С ростом температуры она изменяется немонотонно и имеет максимум при температуре вблизи комнатной (sigmamax=4.3 Ом-1· см-1). Анализ температурной зависимости удельной электропроводности показал следующее: концентрация свободных электронов n с ростом температуры в интервале 160-520 K увеличивается за счет ионизации доноров, а затем не изменяется, откуда следует, что удельная электропроводность максимальна при неполной ионизации нескомпенсированных доноров [ степень ионизации n/(Nd-Na)=0.4 ]; дрейфовая подвижность электронов mu уменьшается с ростом температуры во всем интервале 160/680 K: mu [ см2/В· с]=170(T [ K]/300)-2.4.