ФТП, 2010, том 44, выпуск 3

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Оценка надежности полупроводникового излучателя ИЛПН-134

О.В.Журавлева, А.В.Иванов, В.Д.Курносов, К.В.Курносов, В.И.Романцевич, Р.В.Чернов

ФГУП << НИИ \grqq Полюс\grqq >> им. М.Ф. Стельмаха,
117342 Москва, Россия

(Получена 29 апреля 2009 г. Принята к печати 4 мая 2009 г.)

Исследована надежность излучателя ИЛПН-134. Предложена методика, позволяющая оценить, какой вклад в общий процесс деградации излучателя ИЛПН-134 вносят по отдельности процессы старения лазерного диода и оптической системы. Определены значения энергии активации деградационных процессов, стандартные отклонения и скорости отказов лазерного диода и оптической системы.

 PDF версия (796Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2010, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster