ФТП, 2006, том 40, выпуск 10

 Другие выпуски  Другие журналы  Поиск  
 
   Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников
 
Дубровский В.Г.
Расчет функции распределения квантовых точек по размерам на кинетической стадии роста
1153
 
   Электронные и оптические свойства полупроводников
 
Зиминов А.В., Рамш С.М., Теруков Е.И., Трапезникова И.Н., Шаманин В.В., Юрре Т.А.
Корреляционные зависимости в инфракрасных спектрах металлофталоцианинов
1161
 
Метелева Ю.В., Новиков Г.Ф.
Получение и СВЧ фотопроводимость полупроводниковых пленок CdSe
1167
 
Тарбаев Н.И., Шепельский Г.А.
Две серии полос \glqq дислокационной\grqq фотолюминесценции в кристаллах теллурида кадмия
1175
 
Поклонский Н.А., Лапчук Н.М., Коробко А.О.
Магнитное упорядочение в кристаллическом Si, имплантированном ионами Co промежуточных флюенсов
1181
 
Морозова Н.К., Каретников И.А., Мидерос Д.А., Гаврищук Е.М., Иконников В.Б.
Исследование влияния кислорода на спектры катодолюминесценции и ширину запрещенной зоны ZnSxSe1-x
1185
 
Гуткин А.А., Брунков П.Н., Гладышев А.Г., Крыжановская Н.В., Берт Н.Н., Конников С.Г., Hopkinson M., Patane A., Eaves L.
Оптическое исследование резонансных состояний в GaNxAs1-x
1192
 
   Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность
 
Стамов И.Г., Ткаченко Д.В.
Влияние уровней собственных дефектов в запрещенной зоне CdP2 на электрические свойства структур с барьером Шоттки
на его основе
1196
 
Бланк Т.В., Гольдберг Ю.А., Константинов О.В., Никитин В.Г., Поссе Е.А.
Механизм протекания тока в сплавном омическом контакте In-GaN
1204
 
Гольдман Е.И.
Концентрационно-упругие неустойчивости распределения ионов и нейтральных частиц в изолирующем слое на поверхности полупроводника
1209
 
   Низкоразмерные системы
 
Багаев Е.А., Журавлев К.С., Свешникова Л.Л.
Температурная зависимость фотолюминесценции нанокластеров CdS, сформированных в матрице пленки Ленгмюра--Блоджетт
1218
 
Жигунов Д.М., Шалыгина О.А., Тетеруков С.А., Тимошенко В.Ю., Кашкаров П.К., Zacharias M.
Особенности фотолюминесценции ионов эрбия в структурах с кремниевыми нанокристаллами
1224
 
Антонова И.В., Гуляев М.Б., Яновицкая З.Ш., Володин В.А., Марин Д.В., Ефремов М.Д., Goldstein Y., Jedrzejewski J.
Сопоставление электрических свойств и фотолюминесценции в зависимости от состава слоев SiOx, содержащих
нанокристаллы кремния
1229
 
Зубков В.И.
Моделирование вольт-фарадных характеристик гетероструктур с квантовыми ямами с помощью самосогласованного решения уравнений Шредингера и Пуассона
1236
 
Глазов М.М., Голуб Л.Е.
Недиффузионная слабая локализация в двумерных системах со спин-орбитальным расщеплением спектра
1241
 
   Аморфные, стеклообразные, пористые, органические, микрокристаллические полупроводники, полупроводниковые композиты
 
Бурдиян И.И., Сенокосов Э.А., Косюк В.В., Пынзарь Р.А.
Влияние примеси гольмия (Ho) на фотоэлектрические свойства As2Se3 и (As2S3)0.3(As2Se3)0.7
1250
 
Нечитайлов А.А., Астрова Е.В., Кукушкина Ю.А., Каменева С.Ю.
Окислительно-гравиметрическая порометрия макропористого кремния
1254
 
   Физика полупроводниковых приборов
 
Иванов А.М., Лебедев А.А., Строкан Н.Б.
Влияние экстремальных доз радиации на характеристики SiC-детекторов ядерных частиц
1259
 
Блохин С.А., Сахаров А.В., Малеев Н.А., Кузьменков А.Г., Новиков И.И., Гордеев Н.Ю., Шерняков Ю.М., Максимов М.В., Леденцов Н.Н., Устинов В.М., Ковш А.Р., Михрин С.С., Lee G., Chi J.Y.
Экспериментальное исследование температурной зависимости пороговых характеристик в полупроводниковых вертикально излучающих лазерах на основе субмонослойных
InGaAs-квантовых точек
1264
 
Санкин В.И., Шкребий П.П., Лебедев А.А.
Эффекты ванье-штарковской локализации в  6H-SiC планарном полевом транзисторе с p-n-переходом в качестве затвора
1270
 
Хвостиков В.П., Растегаева М.Г., Хвостикова О.А., Сорокина С.В., Малевская А.В., Шварц М.З., Андреев А.Н., Давыдов Д.В., Андреев В.М.
Высокоэффективные (49%) мощные фотоэлементы на основе антимонида галлия
1275


Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster