"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Бистабильный низкотемпературный (77 K) примесный пробой в 4H-SiC p-типа
Иванов П.А.1, Потапов А.С.1, Самсонова Т.П.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 24 ноября 2009 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2010 г.

Измерены низкотемпературные (77 K) прямые вольт-амперные характеристики мезаэпитаксиальных диодных структур p+-p-n-n (подложка) на основе 4H-SiC. Измеренные вольт-амперные характеристики проявляют S-образный характер, который интерпретируется как бистабильный примесный пробой акцепторных атомов алюминия с вымороженными на примеси носителями заряда.
  1. T.N. Adam, R.T. Troeger, S.K. Ray, P.-C. Lv, J. Kolodzey. Appl. Phys. Lett., 83 (9), 1713 (2003)
  2. P.-C. Lv, R.T. Troeger, T.N. Adam, S. Kim, J. Kolodzey. Appl. Phys. Lett., 85 (1), 22 (2004)
  3. Л.Е. Воробьев, Д.А. Фирсов, В.А. Шалыгин, В.Ю. Паневин, А.Н. Сафронов, Д.В. Цой, А.Ю. Егоров, А.Г. Гладышев, О.В. Бандаренко. Письма ЖТФ, 32 (9), 34 (2006)
  4. И.В. Грехов, П.А. Иванов, А.С. Потапов, Т.П. Самсонова. ФТП, 41, 561 (2007)
  5. A. Dargys, A. Cesna, J. Cundrotas. Semicond. Sci. Technol., 7, 210 (1992)
  6. S.H. Koenig, R.D. Brown, W. Schillinger. Phys. Rev., 128, 1668 (1962)
  7. R.A. Reynolds. Sol. St. Electron., 11, 385 (1968)
  8. E.H. Putley. Semicond. Semimet., 1, 289 (1966)
  9. R.P. Khosla, J.R. Fischer, B.C. Burkey. Phys. Rev. B, 7, 2551 (1973)
  10. E. Scholl. Z. Phys. B--Condensed Matter., 46, 23 (1982)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.