"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Определение состава бинарных халькогенидных стекол методом рентгенофлуоресцентного анализа
Бордовский Г.А.1, Марченко А.В.1, Серегин П.П.1, Смирнова Н.Н.2, Теруков Е.И.2
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 9 июня 2009 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2009 г.

Для определения количественного содержания германия, мышьяка, серы и селена в стеклообразных сплавах As1-xSx, Ge1-xSx, As1-xSex и Ge1-xSex методом рентгенофлуоресцентного анализа реализован метод стандарта. Использование указанной методики позволяет определить количественный состав стекол As1-xSx, Ge1-xSx, As1-xSex и Ge1-xSex с точностью ±0.001 по параметру x.
  • А. Фельц. Аморфные и стеклообразные неорганические твердые тела (М., Мир, 1986)
  • R.E. Loehman, A.J. Armstrong, D.W. Firestone, R.W. Gould. J. Non-Cryst. Sol., 8, 72 (1972)
  • А.В. Легин, Л.А. Байдаков, М.И. Озерной, Ю.Г. Власов, Е.В. Школьников. Физика и химия стекла, 28 (2), 117 (2002)
  • А.М. Блохин, И.Г. Швейцер. Рентгеноспектральный справочник (М., Мир, 1982)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.