Вышедшие номера
Модуляционная оптическая спектроскопия экситонов в структурах с множественными квантовыми ямами GaAs, разделенными туннельно-непрозрачными барьерами
Чалдышев В.В.1, Школьник А.С.1, Евтихиев В.П.1, Holden T.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Brooklyn College of the City University of New York, Brooklyn,, USA
Поступила в редакцию: 28 декабря 2006 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2007 г.

Методом оптического бесконтактного электроотражения при различных температурах исследованы экситонные состояния в структуре с периодической системой из 36 квантовых ям GaAs, разделенных туннельно-непрозрачными барьерами AlGaAs толщиной 104 нм. В этой структуре 32 квантовые ямы имели ширину 15 нм, а еще 4 квантовые ямы, а именно 5, 14, 23 и 32-я, были шириной 20 нм. Периодичность структуры соответствовала брэгговскому условию интерференции на частоте экситонов в квантовых ямах при угле падения света ~43o. Путем количественного анализа формы линии бесконтактного электроотражения определены параметры основных и возбужденных состояний экситонов в обоих типах квантовых ям. Установлено, что для системы из 4 ям шириной 20 нм, расположенных на расстоянии 830 нм друг от друга, энергия размерного квантования в основном состоянии равна 8.4±0.1 мэВ, а параметр уширения экситонного пика составляет 1.8±0.1 мэВ при 17 K и возрастает до 2.0±0.1 мэВ при 80 K. Для системы из 32 ям шириной 15 нм энергия размерного квантования в основном состоянии равна 14.9±0.1 мэВ, а параметр уширения экситонного пика составляет 2.2±0.1 и 2.6±0.1 мэВ при 17 и 80 K соответственно. Рассмотрены возможные причины радиационного и нерадиационного уширения экситонных состояний в этих системах. PACS: 71.35.Cс, 73.21.Fg, 78.67.De
  1. Е.Л. Ивченко, А.И. Несвижский, С. Йорда. ФТТ, 36, 2118 (1994)
  2. В.А. Кособукин, М.М. Моисеева. ФТТ, 37, 3694 (1995)
  3. Е.Л. Ивченко, В.П. Кочерешко, А.В. Платонов, Д.Р. Яковлев, А. Вааг, В. Осаау, Г. Ландвер. ФТТ, 39, 2072 (1997)
  4. E.L. Ivchenko, M. Willander. Phys. Status Solidi B, 215, 199 (1999)
  5. L.I. Deych, A.A. Lisyansky. Phys. Rev. B, 62, 4242 (2000)
  6. T. Ikawa, K. Cho. Phys. Rev. B, 66, 85 338 (2002)
  7. L. Pilozzi, A. D'Andrea, K. Cho. Phys. Rev. B, 69, 205 311 (2004)
  8. E.L. Ivchenko, M.M. Voronov, M.V. Erementchouk, L.I. Deych, A.A. Lisyansky. Phys. Rev. B, 70, 195 106 (2004)
  9. М.М. Воронов, Е.Л. Ивченко, А.Н. Поддубный, В.В. Чалдышев. ФТТ, 48 (9), 1814 (2006)
  10. V.P. Kochereshko, G.R. Pozina, E.L. Ivchenko, D.R. Yakovlev, A. Waag, W. Ossau, G. Landwehr, R. Hellmann, E.O. Gobel. Superlat. Microstruct., 15, 471 (1994)
  11. Y. Merle d'Aubigne, A. Wasiela, H. Mariette, T. Dietl. Phys. Rev. B, 54, 14 003 (1996)
  12. J. Sadowski, H. Mariette, A. Wasiela, R. Andre, Y. Merle d'Aubigne, T. Dietl. Phys. Rev. B, 56, 1664 (1997)
  13. M. Hubner, J. Kuhl, T. Stroucken, A. Knorr, S.W. Koch, R. Hey, K. Ploog. Phys. Rev. Lett., 76, 4199 (1996)
  14. C. Ell, J. Prineas, T.R. Nelson, Jr., S. Park, H.M. Gibbs, G. Khitrova, S.W. Koch. Phys. Rev. Lett., 80, 4795 (1998)
  15. G.R. Hayes, J.L. Shaehli, U. Oesterle, B. Deveaud, R.T. Phillips, C. Ciuti. Phys. Rev. Lett., 83, 2837 (1999)
  16. J.P. Prineas, C. Ell, E.S. Lee, G. Khitrova, H.M. Gibbs, S.W. Koch. Phys. Rev. B, 61, 13 863 (2000)
  17. V.P. Evtikhiev, A.B. Pevtsov, A.V. Sel'kin, A.S. Shkolnik, E.L. Ivchenko, V.V. Chaldyshev, L.I. Deych, A.A. Lisyansky, D.R. Yakovlev, M. Bayer. In: 13th Int. Symp. Nanostructures: Physics and Technology (St. Petersburg, Russia, 2005)
  18. В.В. Чалдышев, А.С. Школьник, В.П. Евтихиев, T. Holden. ФТП, 40 (12), 1466 (2006)
  19. F.H. Pollak. In: Properties of III--V Quantum Wells and Superlattices: EMI Data Reviews Series, ed. by P. Bhattacharya (INSPEC, London, 1996) p. 232
  20. М. Кардона. Модуляционная спектроскопия (М., Мир, 1972)
  21. S. Adachi. J. Appl. Phys., 58, R1 (1985)
  22. B. Gerlach, J. Wusthoff, M.O. Dzero, M.A. Smondyrev. Phys. Rev., B, 58, 10 568 (1998)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.