Вышедшие номера
Полярные оптические фононы в сверхрешетках Si/SiO2
РНФ, поддержки малых научных групп, 22-22-20021
Смирнов М.Б.1, Григорьева Н.Р.1, Панькин Д.В.1, Рогинский Е.М.2, Савин A.B.2
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: n.r.grigorieva@spbu.ru
Поступила в редакцию: 26 декабря 2023 г.
В окончательной редакции: 20 января 2024 г.
Принята к печати: 20 января 2024 г.
Выставление онлайн: 9 апреля 2024 г.

Изучены диэлектрические свойства планарных гетероструктур Si/SiO2, играющих важную роль в современной электронике. С применением модели диэлектрического континуума исследованы спектры полярных оптических фононов в бинарных сверхрешетках Si/SiO2. В качестве структурной модели оксидного слоя рассмотрены решетки кварца и кристобалита. Получены зависимости частот полярных оптических фононов и значения элементов тензора высокочастотной диэлектрической проницаемости от отношения толщин слоев. Полученные результаты открывают возможность использования спектроскопических данных для характеризации структуры сверхрешеток. Ключевые слова: оксид-полупроводниковые гетероструктуры, сверхрешетки, компьютерное моделирование, модель диэлектрического континуума, колебательные спектры.
  1. S.T. Pantelides, S. Wang, A. Franceschetti, R. Buczko, M. Di Ventra, S.N. Rashkeev, L. Tsetseris, M.H. Evans, I.G. Batyrev, L.C. Feldman, S. Dhar, K. McDonald, R.A. Weller3 R.D. Schrimpf, D.M. Fleetwood, X.J. Zhou, J.R. Williams, C.C. Tin, G.Y. Chung, T. Isaacs-Smith, S.R. Wang, S.J. Pennycook, G. Duscher, K. van Benthem L.M. Porter. Mater. Sci. Forum, 527-529, 935 (2006)
  2. Z.H. Lu, D.J. Lockwood, J.-M. Baribeau. Nature, 378, 258 (1995)
  3. N. Liu, J. Sun, S. Pan, Z. Chen, W. Shi, R. Wang, X. Wang. Optics Commun., 176, 239 (2000)
  4. T. Zheng, Z. Li. Superlatt. Microstruct., 37, 227 (2005)
  5. S. Yamada, M. Konagai, S. Miyajima. Jpn. J. Appl. Phys., 55, 04ES06 (2016)
  6. V. Davydov, E. Roginskii, Yu. Kitaev, A. Smirnov, I. Eliseyev, D. Nechaev, V. Jmerik, M. Smirnov. Nanomaterials, 11, 286 (2021)
  7. M.B. Smirnov, D.V. Pankin, E.M. Roginskii, A.V. Savin. Phys. Solid State, 64, 1675 (2022)
  8. M. Smirnov, E. Roginskii, A. Savin, N. Mazhenov, D. Pankin. Coatings, 13, 1231 (2023)
  9. С.М. Рытов. ЖЭТФ, 29 (5), 605 (1955)
  10. K. Huang, B. Zhu. Phys. Rev. B, 38, 13377 (1988)
  11. J.-Z. Zhang, B.-F. Zhu, K. Huang. Phys. Rev. B, 59, 13184 (1998)
  12. J. Gleize, M.A. Renucci, J. Frandon, F. Demangeot. Phys. Rev. B, 60, 15985 (1999)
  13. S. Coh, D. Vanderbilt. Phys. Rev. B, 78, 054117 (2008)
  14. M. Smirnov, E. Roginskii, A. Savin, A. Oreshonkov, D. Pankin. Photonics, 10, 902 (2023)
  15. J.F. Scott, S.P.S. Porto. Phys. Rev. B, 161, 903 (1967)
  16. G. Ghosh. Optics Commun., 163, 95 (1999)
  17. H. H. Li. J. Phys. Chem. Ref. Data, 9, 561 (1980)
  18. R.E. Camley, D.L. Mills. Phys. Rev. B, 29, 1695 (1984)
  19. R. Ruppin, R. Englman. Rep. Progr. Phys., 33, 149 (1970)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.