Устойчивость обработанных протонами GaAs фотодетекторов к гамма-нейтронному облучению
Мурель А.В.1, Оболенский С.В.2, Фефелов А.Г.2, Киселева Е.В.2
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Поступила в редакцию: 16 декабря 2003 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2004 г.
Исследованы характеристики облученных протонами эпитаксиальных i-GaAs-структур фотодетекторов со встречно-штыревой системой электродов до и после воздействия гамма-нейтронного облучения. Чтобы уменьшить темновой ток фотодетекторов, металлизация электродов производилась на облученных протонами i-GaAs-структурах, а затем проводилось вжигание при температуре 300oC в течение 30 мин, что приводило к частичному восстановлению проводимости эпитаксиального слоя. На основании измерений спектральных зависимостей фоточувствительности структур показано, что при энергиях оптических квантов, близких к ширине запрещенной зоны, фоточувствительность облученных протонами структур устойчива к воздействию гамма-нейтронного облучения, что позволяет предложить их для создания радиационно-стойких фотодетекторов.
- С.М. Зи. Физика полупроводниковых приборов (М., Энергия, 1973)
- Е.Р. Аствацатурьян, Д.В. Громов, В.М. Ломако. Радиационные эффекты в приборах и интегральных схемах на арсениде галлия (Минск, Университетское, 1992)
- Р. Зулиг. В сб.: Арсенид галлия в микроэлектронике (М., Мир, 1988)
- А.В. Бобыль, Р.В. Конакова, В.К. Кононов, В.Г. Малинин, М.М. Малышев, И.В. Прокопенко, М.И. Слуцкий, Ю.Ф. Тхорик. Электрон. техн. Сер. Управление качеством, (4), 31 (1992)
- В.А. Козлов, В.В. Козловский. ФТП, 35, 769 (2001)
- С.В. Оболенский. Физика и химия обраб. материалов, 5 (2001)
- В.С. Вавилов, Н.А. Ухин. Радиационные эффекты в полупроводниках и полупроводниковых приборах (М., Атомиздат, 1969)
- В.Н. Брудный, А.И. Потапов. ФТП, 35, 1423 (2001)
- В.Н. Брудный, Н.Г. Колин, Д.И. Меркурисов, В.А. Новиков. ФТП, 35, 739 (2001)
- В.П. Кладько, В.П. Пляцко. ФТП, 32, 261 (1998)
- Y.L. Luo, T.P. Chen, S. Fang, C.D. Beling. Sol. St. Commun., 101, 715 (1997)
- Д. Ланг. В сб.: Точечные дефекты в твердых телах. Сер. Новости физики твердого тела (М., Мир. 1979) вып. 9, с. 187
- В.А. Новиков,В.В. Пешев. ФТП, 32, 411 (1998)
- S.A. Goodman, F.D. Auret, M. Ridgway, G. Myburg. Nucl. Instrum. Meth. B, 148, 446 (1999)
- C. Chiossi, F. Nava, C. Canali, S. D'Auria, C. del Papa, A. Castaldini, A. Cavallini, C. Lanzieri. Nucl. Instrum. Meth. A, 388, 379 (1997)
- В.Н. Брудный, Н.Г. Колин, В.А. Новиков, А.И. Нойфех, В.В. Пешев. ФТП, 31, 811 (1997)
- В.Н. Брудный, В.В. Пешев. ФТП, 37, 22 (2003)
- F. Nava, P. Vanni, A. Cavallini, A. Castaldini, C. Canali, A. Alberigi Quaranta, C. Lanzieri. Nucl. Phys. B, 61B, 432 (1998)
- Ф.П. Коршунов, Г.В. Гатальский, Г.М. Иванов. Радиационные эффекты в полупроводниковых приборах (Минск, Наука и техника, 1978)
- С.В. Оболенский, В.Д. Скупов. Письма ЖТФ, 26, 1 (2000)
- М. Шур. Современные приборы на основе арсенида галлия (М., Мир. 1991)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.