"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Определение профиля распределения концентрации носителей заряда в слабосвязанных сверхрешетках GaAs / AlGaAs
Брунков П.Н.1, Усов С.О.1, Мусихин Ю.Г.1, Жуков А.Е.1, Цырлин Г.Э.1, Устинов В.М.1, Конников С.Г.1, Расулова Г.К.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 17 сентября 2003 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2004 г.

С помощью метода электрохимического вольт-фарадного профилирования проведены исследования влияния уровня легирования на вольт-амперные характеристики полупроводниковых гетероструктур со сверхрешетками GaAs / AlGaAs. Показано, что высокая концентрация свободных электронов в сверхрешетке GaAs / AlGaAs экранирует внешнее электрическое поле и препятствует образованию домена с высоким электрическим полем, ответственного за процесс резонансного туннелирования в слабосвязанных решетках.
  1. H.T. Grahn, H. Schneider, K. von Klitzing. Phys. Rev. B, 41, 2890 (1990)
  2. J. Kastrup, R. Klann, H.T. Grahn, K. Ploog, L.L. Bonilla, J. Galan, M. Kindelan, M. Moscoso, R. Merlin. Phys. Rev. B, 52, 13 761 (1995)
  3. J. Kastrup, R. Hey, K.H. Ploog, H.T. Grahn, L.L. Bonilla, M. Kindelan, M. Moscoso, A. Wacker, J. Galan. Phys. Rev. B, 55, 2476 (1997)
  4. X.R. Wang, J.N. Wang, B.Q. Sun, D.S. Jiang. Phys. Rev. B, 61, 7261 (2000)
  5. L.L. Bonilla, J. Galan, J.A. Cuesta, F.C. Martinez, J.M. Molera. Phys. Rev. B, 50, 8644 (1994)
  6. A. Wacker, M. Moscoso, M. Kindelan, L.L. Bonilla. Phys. Rev. B, 55, 2466 (1997)
  7. P. Blood. Semicond. Sci. Technol., 1, 7 (1986)
  8. И.В. Ирин, А.В. Мурель. ПТЭ, N 6, 151 (1993)
  9. В.И. Шашкин, Р.И. Каретникова, А.В. Мурель, И.М. Нефедов, И.А. Шерешевский. ФТП, 31, 926 (1997)
  10. P.N. Brounkov, T. Benyattou, G. Guillot. J. Appl. Phys., 80, 864 (1996)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.