Исследованы вольт-амперные, вольт-фарадные характеристики структур на основе мезопористого кремния, полученного методом неэлектролитического травления при пассивации железом (SiMP:Fe). Показано, что в гетероструктурах Al-SiMP:Fe-p-Si-Al проводимость и барьеры зависят от концентрации Fe неоднозначно. Пассивация железом изменяет не только величину проводимости слоя SiMP:Fe, но и характер переноса носителей на низких частотах. При концентрации железа ~ 1 ат% преимущественным становится туннельный перенос сквозь барьеры по сравнению с "прыжковым" по оборванным связям. Пассивация железом слоя SiMP стабилизирует электрофизические свойства, что подтвердилось значениями концентрации ловушек, оцененными по ВАХ, при длительном хранении структур. Это, вероятно, связано с процессами взаимодействия ионов железа с поверхностью кремния с образованием окислов.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.