Пленки оксида галлия, полученные методом термического напыления
Калыгина В.М.1, Зарубин А.Н.1, Новиков В.А.1, Петрова Ю.С.1, Толбанов О.П.1, Тяжев А.В.1, Цупий С.Ю.1, Яскевич Т.М.1
1Сибирский физико-технический институт им. акад. В.Д. Кузнецова Томского государственного университета, Томск, Россия
Поступила в редакцию: 23 июля 2012 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2013 г.
Изучены вольт-амперные, вольт-фарадные и вольт-сименсные характеристики структур металл- GaxOy-GaAs-металл. Пленки оксида галлия толщиной 150-170 нм получали термическим напылением порошка Ga2O3 на подложки электронного GaAs с концентрацией доноров Nd=2·1016 см-3. После обработки пленок GaxOy в кислородной плазме снижаются прямые и обратные токи; C-U и G-U зависимости сдвигаются в область более высоких положительных напряжений. Уровень Ферми на границе раздела диэлектрик-полупроводник исследованных структур откреплен. Показано, что на границе GaxOy-GaAs плотность состояний Nt=(2-6)·1012 эВ-1см-2.
- R. Droopad, M. Passlack, N. England, K. Rajagopalan, J. Abrokwah, A. Kummel. Microelectron Engin., 80, 138 (2005)
- C.T. Lee, H.W. Chen, H.Y. Lee. Appl. Phys. Lett., 82, 4304 (2003)
- H. Hasegava, M. Akazavz, A. Domanowska, B. Adamowicz. Appl. Surf. Sci., 256, 5698 (2010)
- D. Fu, T.W. Kang. Jpn. J. Appl. Phys., 41, L1437 (2002)
- M. Passlack, R. Droopad, G. Brammertz. IEEE Trans. ED, 57, 2944 (2010)
- G.W. Paterson, J.A. Wilson, D. Moran, R. Hill, A.R. Long, I. Thayne, M. Passlack, R. Droopad. Mater. Sci. Engin. B, 135, 277 (2006)
- S.A. Lee, J.Y. Hwang, J.P. Kim, C.R. Cho, W.J. Lee, S.Y. Jeong. J. Korean Phys. Soc., 47, S292 (2005)
- K. Tang, W. Huang, T.P. Chow. J. Electron. Mater., 38, 523 (2009)
- В.Ю. Рудь, Ю.В. Рудь, Е.И. Теруков, Т.Н. Ушакова. ФТП, 46, 798 (2012)
- В.М. Калыгина, А.Н. Зарубин, Е.П. Найден, В.А. Новиков, Ю.С. Петрова, О.П. Толбанов, А.В. Тяжев, Т.М. Яскевич. ФТП, 45, 1130 (2011)
- В.М. Калыгина, А.Н. Зарубин, Е.П. Найден, В.А. Новиков, Ю.С. Петрова, О.П. Толбанов, А.В. Тяжев, Т.М. Яскевич. ФТП, 46, 278 (2012)
- В.И. Гаман. Физика полупроводниковых приборов (Томск, НТЛ, 2000) гл. 9, с. 286, 326
- H.-L. Ma, D-W. Fan. Chin. Phys. Lett., 26 (11), 117 302 (2009)
- В.М. Калыгина, К.И. Валиев, А.Н. Зарубин, Ю.С. Петрова, О.П. Толбанов, А.В. Тяжев, Т.М. Яскевич. ФТП, 46, 1027 (2012)
- В.И. Гаман, В.М. Калыгина, Н.Н. Иванова. Изв. вузов. Физика, 46 (4), 3 (2003)
- V.V. Afanesev, A. Stesmans, M. Passlack, N. Medendrop. Appl. Phys. Lett., 85, 597 (2004)
- В.М. Калыгина, А.Н. Зарубин, Ю.С. Петрова, С.Ю. Цупий, О.П. Толбанов, А.В. Тяжев, Т.М. Яскевич. Изв. вузов. Физика, 55 (9), 9 (2012)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.