Вышедшие номера
Метод матриц рассеяния для расчета спонтанной излучательной рекомбинации в структурах с цилиндрической симметрией
Переводная версия: 10.1134/S1063782620070106
Николаев В.В.1, Иванов К.А.2,3, Морозов К.М.2,3, Белоновский А.В.2,3
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Email: Valentin.Nikolaev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 16 декабря 2019 г.
В окончательной редакции: 20 февраля 2020 г.
Принята к печати: 20 февраля 2020 г.
Выставление онлайн: 8 апреля 2020 г.

Разработан метод анализа модификации спонтанного излучения в структурах с цилиндрической симметрией. Выведен метод матриц рассеяния для цилиндрических структур. На основе матриц рассеяния получены правила квантования электромагнитного поля (S-квантование) в цилиндрических системах. Получены общие выражения для темпа излучательной рекомбинации эмиттера, находящегося в произвольной точке структуры. Выведены количественные показатели, дающие оценку усилению и подавлению излучательной рекомбинации, которые могут рассматриваться как модовые факторы Парселла. Получено выражение для суммарного фактора Парселла для излучения в направлении, перпендикулярном оси симметрии среды, а также выражение для интегрального (полного) фактора Парселла для эмиттера на оси симметрии. Ключевые слова: нанофотоника, спонтанная излучательная рекомбинация, эффект Парселла.