Вышедшие номера
Особенности МПЭ ПА синтеза слоев n+-GaN на виртуальных подложках GaN/c-Al2O3
Переводная версия: 10.1134/S1063782619090112
Мизеров А.М.1, Тимошнев С.Н.1, Никитина Е.В.1, Соболев М.С.1, Шубин К.Ю.1, Березовская Т.Н.1, Мохов Д.В.1, Лундин В.В.2, Николаев А.Е.2, Буравлев А.Д.1,2,3
1Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Email: andreymizerov@rambler.ru
Поступила в редакцию: 24 апреля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2019 г.

Представлены результаты исследований синтеза слоев n+-GaN методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота на виртуальных подложках GaN/c-Al2O3. В частности, разработан метод предэпитаксиальной очистки GaN поверхностей виртуальных подложек от инородных атомов. Показано, что для формирования слоев GaN относительно высокого качества, в том числе легированных кремнием вплоть до ~4.6· 1019 см-3, сначала следует проводить предэпитаксиальную очистку виртуальных подложек в потоке активированных частиц азота при увеличении температуры подложки от TS=400 до 600oC, с последующей экспозицией поверхности подложки в потоке активированного азота при фиксированном значении TS=600oC в течение 1 ч. После этого температуру подложки необходимо увеличить до TS=700oC и осуществить окончательную очистку GaN-поверхности с использованием процедуры осаждения/десорбции галлия. Ключевые слова: GaN, молекулярно-пучковая эпитаксия с плазменной активацией, легирование кремнием.