Мизеров А.М.1, Тимошнев С.Н.1, Никитина Е.В.1, Соболев М.С.1, Шубин К.Ю.1, Березовская Т.Н.1, Мохов Д.В.1, Лундин В.В.2, Николаев А.Е.2, Буравлев А.Д.1,2,3
1Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Email: andreymizerov@rambler.ru
Поступила в редакцию: 24 апреля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2019 г.
Представлены результаты исследований синтеза слоев n+-GaN методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота на виртуальных подложках GaN/c-Al2O3. В частности, разработан метод предэпитаксиальной очистки GaN поверхностей виртуальных подложек от инородных атомов. Показано, что для формирования слоев GaN относительно высокого качества, в том числе легированных кремнием вплоть до ~4.6· 1019 см-3, сначала следует проводить предэпитаксиальную очистку виртуальных подложек в потоке активированных частиц азота при увеличении температуры подложки от TS=400 до 600oC, с последующей экспозицией поверхности подложки в потоке активированного азота при фиксированном значении TS=600oC в течение 1 ч. После этого температуру подложки необходимо увеличить до TS=700oC и осуществить окончательную очистку GaN-поверхности с использованием процедуры осаждения/десорбции галлия. Ключевые слова: GaN, молекулярно-пучковая эпитаксия с плазменной активацией, легирование кремнием.
- K. Kim, M. Hua, D. Liu, J. Kim, K.J. Chen, Zh. Ma. Nano Energy, 43, 259 (2018)
- R. Hentschel, J. Gurtner, A. Wachowiak, A. Grob er, T. Mikolajick, S. Schmult. J. Cryst. Growth, 500, 1 (2018)
- A. Binder, Jiann-Shiun Yuan, Balakrishnan Krishnan, P.M. Shea. Superlat. Microstr., 121, 92 (2018)
- G.H. Chung, T.A. Vuong, H. Kim. Results Phys., 12, 83 (2019)
- G. El-zammar, A. Yvon, W. Khalfaoui, M. Nafouti, F. Cayrel, E. Collard, D. Alquier. Mater. Sci. Semicond. Processing, 78, 107 (2018)
- O. Ambacher. J. Phys. D: Appl. Phys., 31, 2653 (1998)
- Y. Yue, Z. Hu, J. Guo, B. Sensale-Rodriguez, G. Li, R. Wang, F. Faria, T. Fang, B. Song, X. Gao, Sh. Guo, Th. Kosel, G. Snider, P. Fay, D. Jena, H. Xing. IEEE Electron Dev. Lett., 33, 7 (2012)
- S.J. Hong, K.(Kevin) Kim. Appl. Phys. Lett., 89, 042101 (2006)
- Zh. Zheng, H. Seo, L. Pang, K.(Kevin) Kim. Phys. Status Solidi A, 208 (4), 953 (2011)
- J. Guo1, Y. Cao, Ch. Lian, T. Zimmermann, G. Li, J. Verma, X. Gao, Sh. Guo, P. Saunier, M. Wistey, D. Jena, H.(Grace) Xing. Phys. Status Solidi A, 208 (7), 1617 (2011)
- B. Song, M. Zhu, Z. Hu, M. Qi, K. Nomoto, X. Yan, Y. Cao, D. Jena, H.G. Xing. IEEE Electron Dev. Lett., 37, 1 (2016)
- G. Koblmuller, R.M. Chu, A. Raman, U.K. Mishra, J.S. Speck. J. Appl. Phys., 107, 043527 (2010)
- D.F. Storm, T. Mc Conkie, D.S. Katzer, B.P. Downey, M.T. Hardy, D.J. Meyer, D.J. Smith. J. Cryst. Growth, 409, 14 (2015)
- S. Gangopadhyay, Th. Schmidt, C. Kruse, S. Figge, D. Hommel, J. Falta. J. Vac. Sci. Technol. A, 32 (5), 051401 (2014)
- S. Fernandez-Garrido, G. Koblmuller, E. Calleja, J.S. Speck. J. Appl. Phys., 104, 033541 (2008)
- A.M. Mizerov, V.N. Jmerik, V.K. Kaibyshev, T.A. Komissarova, S.A. Masalov, S.V. Ivanov. Semiconductors, 43 (8), 1058 (2009)
- A.M. Mizerov, S.N. Timoshnev, M.S. Sobolev, E.V. Nikitina, K.Yu. Shubina, T.N. Berezovskaia, I.V. Shtrom, A.D. Bouravleuv. Semiconductors, 52 (12), 1529 (2018)
- W.V. Lundin, A.E. Nikolaev, A.V. Sakharov, S.O. Usov, E.E. Zavarin, P.N. Brunkov, M.A. Yagovkina, N.A. Cherkashin, A.F. Tsatsulnikov. Semiconductors, 48 (1), 53 (2014)
- O. Brandt, H. Yang, K.H. Ploog. Phys. Rev. B, 54, 4432 (1996)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.